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时代膜厚仪技术参数
点击次数:1941 更新时间:2010-05-25

涂层膜厚仪——技术参数表:

测头(tou)类型
N
测量(liang)原理
电涡流(liu)
测量范围(wei)
0-1250um/0-40um(铜上镀铬)
低限分辨力
1µm(10um以下(xia)为0.1um)
探(tan)头连接方式
一体化
示值误差
一点校准(um)
±[3%H+1.5]
两点校准(um)
±[(1%~3%)H+1.5]
测量(liang)条件
zui小曲率(lv)半(ban)径(mm)
凸(tu)3    凹10
基体zui小(xiao)面积的直径(mm)
ф5
zui小临界(jie)厚(hou)度(mm)
0.3
温湿度
 
0~40℃
20%RH~90%RH
 
统计功(gong)能(neng)
平均值(MEAN)、zui大值(MAX)、zui小值(MIN)、测试次数(NO.)、标(biao)准偏(pian)差(S.DEV)
工作(zuo)方式
直接方(fang)式(shi)(DIRECT)和成组(zu)方(fang)式(shi)(Appl)
测量方(fang)式
连(lian)续测量(liang)方式(shi)(CONTINUE)和(he)单次测量(liang)方式(shi)(SINGLE)
上下限设置(zhi)
无(wu)
存储能力
15 个测量(liang)值
打印(yin)/连接(jie)计算机
可选(xuan)配打印机/不(bu)能连接电脑
关机方式(shi)
自动
电源(yuan)
二节3.6V镍镉电池
外形(xing)尺(chi)寸
150×55.5×23mm
重(zhong)量
150g

涂层膜厚仪——标准配置:
  主机

z标准(zhun)片一套(50um 100um 200um 500um 1000um)
z铁基体
z充电(dian)器
 

涂层膜厚仪——执行标准:

是一种超小涂层膜厚仪型测量仪,它能快速、无损伤、精密地进行非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量。可广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。由于该仪器体积小、测头与仪器一体化,特别适用于工程现场测量。 技术:    欢迎您的来电来函咨询,我们将竭诚为您服(fu)务

  GB/T 4957─1985 非磁性金属基体上(shang)非导电覆盖层(ceng)厚度测量涡流方法
 
  J B/T 8393─1996 磁性和涡流式覆(fu)层厚(hou)度测量仪

  JG 818─93 《电涡流式测厚仪》