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产品列表PRODUCTS LIST
区别一、湿度(du)测(ce)试(shi)：高低温循环(huan)试(shi)验箱具备了水(shui)路(lu)系统(tong)，还可以带(dai)湿度(du)测(ce)试(shi)，而冷热冲击试(shi)验箱是不(bu)具备有(you)湿度(du)功效。
区(qu)别二、降(jiang)(jiang)温(wen)(wen)过程：这两种试验(yan)(yan)箱(xiang)都是给产(chan)(chan)品做高(gao)低温(wen)(wen)的试验(yan)(yan)。但是他们(men)有一个(ge)根本(ben)的区(qu)别是高(gao)低温(wen)(wen)箱(xiang)是看产(chan)(chan)品在降(jiang)(jiang)温(wen)(wen)的过程中感测(ce)(ce)到(dao)(dao)产(chan)(chan)品的变化(hua)，而冷热冲击试验(yan)(yan)箱(xiang)就没(mei)有这个(ge)降(jiang)(jiang)温(wen)(wen)过程，它是使产(chan)(chan)品瞬间的感测(ce)(ce)到(dao)(dao)温(wen)(wen)度的变化(hua)而变化(hua)的.
区(qu)别三、应(ying)用范围： 高(gao)低(di)温(wen)箱用于电(dian)工、电(dian)子产品(pin)、元(yuan)(yuan)器(qi)件、零部件及其材料(liao)在高(gao)低(di)温(wen)环境(jing)下储存、运输和(he)使用时的适应性试验(yan)，以及温(wen)度渐变(bian)试验(yan)。还可以对电(dian)子元(yuan)(yuan)器(qi)件进行应力筛(shai)选(xuan)试验(yan)。
而(er)冷(leng)热冲击试验箱主要(yao)是(shi)针对于电(dian)工(gong)、电(dian)子产品整机(ji)及零(ling)部件进(jin)行耐(nai)寒试验、温(wen)度快速(su)变(bian)化或渐变(bian)条件下的适应(ying)性试验箱，特别适用于进(jin)行电(dian)工(gong)、电(dian)子产品的环境(jing)应(ying)力筛(shai)选（ESS）试(shi)(shi)验(yan)。该试(shi)(shi)验(yan)设备主要(yao)(yao)用(yong)(yong)于(yu)对产(chan)品(pin)按照国家标准要(yao)(yao)求(qiu)(qiu)或用(yong)(yong)户自定要(yao)(yao)求(qiu)(qiu)，在高温与低温瞬(shun)间变化条件下(xia)，对产(chan)品(pin)的(de)物理以(yi)及(ji)其他相(xiang)关(guan)特性进(jin)行环(huan)境模拟测(ce)试(shi)(shi)，测(ce)试(shi)(shi)后，通(tong)过检测(ce)，来(lai)判(pan)断产(chan)品(pin)的(de)性能(neng)，是否(fou)仍(reng)然能(neng)够符合(he)预定要(yao)(yao)求(qiu)(qiu)，以(yi)便供产(chan)品(pin)设计、改进(jin)、鉴定及(ji)出(chu)厂检验(yan)用(yong)(yong)。
区(qu)别(bie)四、温(wen)度转(zhuan)(zhuan)换速度：高低温(wen)箱相对(dui)转(zhuan)(zhuan)换速度要(yao)慢，由于试验需求的多样性，厂(chang)家会(hui)依客人要(yao)求制(zhi)造(zao)各种非标准(zhun)产品，不同(tong)的配(pei)置要(yao)求速度是不一样的，您(nin)在购买之(zhi)前请先与制(zhi)造(zao)商说明(ming)情况及要(yao)求，或(huo)做更经济型常(chang)规机器升降温(wen)速度在1～3度/分钟左右常规性的高低温(wen)箱，就(jiu)是升温(wen)3度每(mei)分钟(zhong)，降温一度每(mei)分钟(zhong)的。
冷热冲击试验箱的温度(du)转(zhuan)换速度(du)非常(chang)快，一(yi)般(ban)从高温到(dao)低温转(zhuan)换时间在3～5分(fen)钟之(zhi)内(nei)可完成，也叫高低温冲击(ji)试(shi)验(yan)箱或快速温温变试(shi)验(yan)箱。而(er)常规的冷热冲击(ji)试(shi)验(yan)箱则是在5分钟之(zhi)内迅速完成高温(wen)到(dao)常温(wen)或者常温(wen)到(dao)低(di)温(wen)的(de)转(zhuan)换 ，本质的(de)区别就是温(wen)度变化所(suo)花的(de)时间不一(yi)样！
冷热冲(chong)击试验箱(xiang)和高低温试验箱(xiang)两者最大的区别在(zai)于升降(jiang)温速率和箱(xiang)体结构，
冷(leng)热冲(chong)击试验箱(xiang)(xiang)(xiang)是通过突变的(de)温度环境对产品试件(jian)进行(xing)温度冲(chong)击，不同(tong)的(de)结构转(zhuan)换时(shi)间(jian)略(lve)有(you)不同(tong)，三箱(xiang)(xiang)(xiang)式(shi)冷(leng)热冲(chong)击试验箱(xiang)(xiang)(xiang)转(zhuan)换时(shi)间(jian)小(xiao)于(yu)3秒，二箱(xiang)式(shi)冷热(re)冲(chong)击试验箱(xiang)的转换时间小于5秒，但不论那种结构，其恢复时间均需小于或等(deng)于5分(fen)钟(zhong)；而高低温(wen)试验(yan)箱是可(ke)以模拟高温(wen)恒温(wen)条件、低温(wen)恒温(wen)条件和高低温(wen)交替变(bian)(bian)化条件的实(shi)验(yan)，其温(wen)度交变(bian)(bian)速率(lv)降(jiang)温(wen)一(yi)般在小于(yu)1.5度每分(fen)钟(zhong)，升温速率小于(yu)3度(du)每分钟。
冷热(re)冲(chong)击试(shi)验(yan)(yan)箱(xiang)和高低温(wen)试(shi)验(yan)(yan)箱(xiang)的结构区(qu)别在于冷热(re)冲(chong)击试(shi)验(yan)(yan)箱(xiang)一般是三箱(xiang)式或二箱(xiang)式结构，而(er)高低温(wen)试(shi)验(yan)(yan)箱(xiang)的结构是单箱(xiang)体(ti)(ti)。
