伊人久久大香线蕉亚洲_亚洲国产精品无码久久久秋霞1_无码日韩精品一区二区免费暖暖_日本伊人色综合网_久久婷婷香蕉热狠狠综合

高低温(wen)箱对电子产(chan)品的用(yong)途：
高(gao)低温(wen)试验箱是模拟自(zi)然高(gao)低温(wen)变化环(huan)境，主要是用来对电子产(chan)品进行耐高(gao)温(wen)，耐低温(wen)测试检测产(chan)品的质量和可靠性。
高低温试(shi)验箱特点(dian)：
1.箱门(men)与工作(zuo)室、外壳设有耐(nai)高温密封条及压紧装置，有效的保(bao)证箱体(ti)的密封性和保(bao)温性能。
2.高低(di)温试验箱的温控(kong)仪(yi)采用进口仪(yi)表(biao)，带PID调节，SSR输出，快速自整定，数字式显示，读数方便。
3.有超温(wen)保(bao)护(hu)(hu)(hu)及(ji)控制回路过载保(bao)护(hu)(hu)(hu)、短路保(bao)护(hu)(hu)(hu)，使用安全(quan)可(ke)靠(kao)。
4.工作室(shi)及试品架(jia)为不锈钢材料(liao)，外箱体为冷(leng)轧板(ban)喷塑而成，外形美观。
5.制冷系(xi)统选用(yong)法国“泰康"原装全(quan)密封压缩机，确保高(gao)低温(wen)试(shi)验(yan)(yan)箱(xiang)的(de)低温(wen)稳定性。高(gao)低温(wen)试(shi)验(yan)(yan)箱(xiang)的(de)日常维护和(he)对主要技术指(zhi)标的(de)简易测试(shi)，能够保证高(gao)低温(wen)试(shi)验(yan)(yan)箱(xiang)的(de)工作(zuo)处(chu)于(yu)*状态(tai)。
高低温试(shi)验(yan)箱维护保(bao)养需要(yao)注意的事(shi)项：
高低温(wen)试验箱工作环境(jing)中的(de)(de)尘(chen)埃和(he)腐蚀性气(qi)体亦(yi)可以影响(xiang)机(ji)械(xie)系(xi)统的(de)(de)灵活(huo)性、降(jiang)低各种限位开关、按(an)键(jian)、光电偶合(he)器的(de)(de)可靠性，也是造成必须(xu)学(xue)部(bu)件铝膜锈蚀的(de)(de)原因(yin)之一(yi)。
2.高(gao)低温试验箱的温度和(he)湿度是影响仪器性(xing)能(neng)的重要因素，其可以引起机(ji)械部(bu)(bu)件的锈蚀，使金(jin)属镜面的光(guang)洁度下降，引起高(gao)低温试验箱机(ji)械部(bu)(bu)分的误差(cha)或性(xing)能(neng)下降;造成高低温试(shi)验箱(xiang)光(guang)学部件如光(guang)栅、反(fan)射镜(jing)、聚焦(jiao)镜(jing)等(deng)的(de)铝膜锈蚀，产生(sheng)光(guang)能不足、杂散(san)光(guang)、噪声等(deng)，甚至(zhi)仪(yi)器停止工(gong)作，从(cong)而影响高低温试(shi)验箱(xiang)的(de)寿(shou)命，维护保养时应定期(qi)加(jia)以校正。
3.高低(di)温(wen)试验箱使(shi)用(yong)一(yi)定(ding)周期(qi)(qi)后，内(nei)部(bu)会积(ji)累一(yi)定(ding)量(liang)的尘埃(ai)，高低(di)温(wen)试验箱由维修工(gong)程(cheng)(cheng)师或(huo)在工(gong)程(cheng)(cheng)师指(zhi)导下定(ding)期(qi)(qi)开(kai)启高低(di)温(wen)试验箱外罩对(dui)内(nei)部(bu)进(jin)行除尘工(gong)作，同(tong)时(shi)将(jiang)各(ge)发(fa)热(re)(re)元件的散热(re)(re)器重新(xin)紧固，对(dui)光学(xue)盒的密封窗(chuang)口进(jin)行清洁(jie)，必要时(shi)对(dui)其进(jin)行校准，对(dui)机(ji)械(xie)部(bu)分(fen)进(jin)行清洁(jie)和必要的润(run)滑，zui后(hou)，恢(hui)复原状(zhuang)，再进(jin)行一(yi)些必要(yao)的检测、调校(xiao)与记录。

 第一类是产品的性能参数不合格，出产的产品不符合运用要求； 第二类是潜在的缺陷，这类缺陷不能用一般的检验方法发现，而需求在运用进程中逐渐地被显露，如硅片表面污染、组织不稳定、焊接空泛、芯片和管壳热阻匹配不良等等。

 一(yi)(yi)般这种缺(que)陷需(xu)求在元器件(jian)作(zuo)业于(yu)额(e)定功(gong)率和正常(chang)作(zuo)业温度下工作(zuo)一(yi)(yi)千个(ge)小(xiao)时左右才(cai)华(hua)全部被(bei)激活（显露）。显着，对每只元器件(jian)检验(yan)一(yi)(yi)千个(ge)小(xiao)时是不现实的，所(suo)以需(xu)求对其(qi)施加热(re)应(ying)(ying)力和偏压，例如进行(xing)高温功(gong)率应(ying)(ying)力试验(yan)，来加速这类缺(que)陷的提前显露。

也就是给电(dian)子产(chan)(chan)品(pin)施加热(re)的(de)(de)、电(dian)的(de)(de)、机(ji)械的(de)(de)或多种概括的(de)(de)外(wai)部(bu)应(ying)力，仿照(zhao)严厉作业环境，消除加工(gong)应(ying)力和剩下溶剂等物(wu)质，使匿伏(fu)缺(que)陷提前出现，从(cong)速(su)使产(chan)(chan)品(pin)通(tong)过失效浴盆特性初(chu)期阶段，进入高可(ke)靠的(de)(de)稳(wen)守(shou)时。

通过高温(wen)老(lao)化可(ke)以使元器(qi)(qi)件的(de)(de)缺陷、焊接(jie)和装置等出产(chan)进程(cheng)中(zhong)存(cun)在的(de)(de)风险提(ti)前(qian)显露，老(lao)化后再(zai)进行(xing)电(dian)气参(can)数测(ce)量，选择除(chu)去失(shi)效(xiao)或(huo)变值的(de)(de)元器(qi)(qi)件，尽可(ke)能(neng)把产(chan)品的(de)(de)前(qian)期(qi)失(shi)效(xiao)消除(chu)在正(zheng)常运(yun)用之(zhi)用，从(cong)面(mian)保(bao)证出厂的(de)(de)产(chan)品能(neng)经得起(qi)时间的(de)(de)检测(ce)。

随着电子技(ji)术(shu)的(de)发展(zhan)，电子产品(pin)的(de)集成化程度(du)越(yue)来(lai)(lai)越(yue)高，结构越(yue)来(lai)(lai)越(yue)细微，工序(xu)越(yue)来(lai)(lai)越(yue)多，制(zhi)造工艺越(yue)来(lai)(lai)越(yue)复杂(za)，这样(yang)在(zai)制(zhi)造过程中会产生(sheng)一些潜伏缺陷(xian)。电子产品(pin)在(zai)生(sheng)产制(zhi)造时,因(yin)设计不合理、原材料或(huo)工艺措施方面的(de)原因(yin)引起产品(pin)的(de)质量问题概括有两类：

一类是产(chan)品的性(xing)能(neng)参数不(bu)达(da)标，生产(chan)的产(chan)品不(bu)符合使用要(yao)求；

二类是(shi)潜在的缺(que)(que)陷，这类缺(que)(que)陷不能用一(yi)般的测试手(shou)段发现，而需要在使用过程中(zhong)逐渐地被暴(bao)露，硅片(pian)表面污染、组织不稳定(ding)、焊接(jie)空洞、芯(xin)片(pian)和管壳(qiao)热阻匹(pi)配不良等(deng)等(deng)。

一(yi)(yi)般这种(zhong)缺陷需要在元(yuan)(yuan)器件(jian)工作于额定功(gong)(gong)率和(he)(he)正(zheng)常工作温度(du)下运行(xing)一(yi)(yi)千(qian)个(ge)小时左右才(cai)能全部被激活(huo)(暴露(lu))。显然，对(dui)每只元(yuan)(yuan)器件(jian)测试(shi)一(yi)(yi)千(qian)个(ge)小时是不现(xian)实的，所以需要对(dui)其施加(jia)热(re)应(ying)(ying)力(li)(li)和(he)(he)偏压，例如(ru)高低温老化试(shi)验(yan)(yan)箱进行(xing)高温功(gong)(gong)率应(ying)(ying)力(li)(li)试(shi)验(yan)(yan)，来(lai)加(jia)速这类缺陷的提早暴露(lu)。

也就(jiu)是(shi)给电(dian)子产品施加热的、电(dian)的、机械的或多种综合(he)的外部应力，高(gao)低温老化试验箱模拟严酷工(gong)作环(huan)境，消除加工(gong)应力和残余溶(rong)剂等(deng)物(wu)质，使潜(qian)伏故障提(ti)前(qian)出(chu)现，尽快(kuai)使产品通过(guo)失效(xiao)浴盆(pen)特性(xing)初期阶段，进入(ru)高(gao)可(ke)靠的稳定期。　

　通过高低温(wen)老(lao)化(hua)试验箱(xiang)的测试可以(yi)使元器(qi)件的缺陷、焊接和装配(pei)等(deng)生产过程中存在(zai)的隐(yin)患提前暴露，老(lao)化(hua)后(hou)再进行(xing)电气参(can)数测量，筛选(xuan)剔除失效(xiao)或变(bian)值的元器(qi)件，尽可能把产品的早期失效(xiao)消灭在(zai)正常使用(yong)之用(yong)，从面保证出厂的产品能经得起(qi)时间的考(kao)验。