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产品列表PRODUCTS LIST
电子产品(pin)可靠性(xing)能测试方法(fa)高(gao)低温环境模拟试验箱(xiang)
所有新的(de)(de)(de)电子(zi)通(tong)讯产品都必须经过检测(ce)(ce)公司的(de)(de)(de)严格检测(ce)(ce)，但(dan)由于智能(neng)手机行业(ye)的(de)(de)(de)快速(su)发展趋(qu)势，对手机的(de)(de)(de)需求越(yue)(yue)来(lai)越(yue)(yue)多(duo)样化(hua)(hua)；手机厂商越(yue)(yue)来(lai)越(yue)(yue)多(duo)元化(hua)(hua)，新手机发布(bu)周(zhou)期缩短，产品稳定性(xing)难以处理。这对厂商提出(chu)了(le)更高的(de)(de)(de)要求，开发更实(shi)用(yong)的(de)(de)(de)电子(zi)通(tong)信测(ce)(ce)试仪器成为当(dang)前的(de)(de)(de)任务。高低温(wen)箱在电子(zi)通(tong)信行业(ye)也发挥着越(yue)(yue)来(lai)越(yue)(yue)重(zhong)要的(de)(de)(de)作用(yong)。
测试(shi)方法(fa)如下：
1、将样品进行试验前的检测，确(que)保性能功(gong)能完好；
2、将受试样品放进温度(du)箱，摆放在中(zhong)间位置，电源线信号线从温箱的出口出来(lai)，和辅助设备搭接(jie)完成；
3、开(kai)启(qi)温(wen)度箱(xiang)控制程(cheng)序(xu)，设(she)定温(wen)度点，保持时(shi)间，温(wen)度变(bian)化(hua)速率等条件，确认各事项准(zhun)备完毕(bi)后，开(kai)启(qi)试验程(cheng)序(xu)。
4、试验(yan)中的检查，观察受试样品是否处于正常工作状态。
5、试验(yan)后(hou)最后(hou)检(jian)查(cha)，若是(shi)贮(zhu)存试验(yan)，试验(yan)后(hou)观察产品(pin)的性能和功能是(shi)否发生改变(bian)。
高温试(shi)验：
1、试验温度为(wei)试验产品(pin)的高(gao)工作环境温度；
2、看产(chan)品在高温的(de)情(qing)况(kuang)下能不(bu)能够使用（比如手机能否启(qi)动）；
3、看产(chan)品(pin)在测试(shi)的时(shi)候能(neng)(neng)不能(neng)(neng)带(dai)电测试(shi)（比如手机在高温(wen)情况下是否能(neng)(neng)够边(bian)充电边(bian)使用）。
低(di)温(wen)试验：
1、试验温(wen)度为(wei)试验产品的低工(gong)作环(huan)境温(wen)度；
2、看产品在低温的情(qing)况下能(neng)不能(neng)够使用(yong)（比如(ru)手机(ji)能(neng)否启动）；
3、看产品在(zai)测试的时候能不(bu)能带电测试（比如手机在(zai)低温情(qing)况下是否能够边充电边使用）。
试(shi)(shi)验(yan)时间(jian)为试(shi)(shi)验(yan)样品在非工(gong)作状态下(xia)达到温(wen)度(du)稳定，然后(hou)启动试(shi)(shi)验(yan)样品进行(xing)工(gong)作，直至试(shi)(shi)验(yan)样品的温(wen)度(du)达到稳定或(huo)者(zhe)按有关标(biao)准或(huo)技(ji)术文件规定进行(xing)工(gong)作的时间(jian)。
试(shi)验(yan)的目的确定(ding)件(jian)、设备(bei)或其他产品在高温(wen)环境(jing)条(tiao)(tiao)件(jian)下(xia)使用的适应性。在特殊情况下(xia)，如果条(tiao)(tiao)件(jian)试(shi)验(yan)期间(jian)试(shi)验(yan)样(yang)品达不到温(wen)度稳(wen)定(ding)。则试(shi)验(yan)持续时(shi)间(jian)从试(shi)验(yan)箱(室)达到规定试(shi)验温度时开始计算。
高低温测试检(jian)测标准：
电工(gong)电子产品环(huan)境试验 第 2 部分：试验方法 试验 A：低温 GB/T 2423.1-2008，IEC 60068-2-1:2007
电(dian)工电(dian)子产品(pin)环境试(shi)验(yan) 第 2 部分(fen)：试(shi)验(yan)方法 试(shi)验(yan) B：高温 GB/T 2423.2-2008 ，IEC 60068-2-2:2007
测(ce)试周期：
低温贮(zhu)存24小(xiao)时
高低温工作4小时或2小时
高(gao)温贮存48小时
高低温启动2小(xiao)(xiao)时或(huo)1小(xiao)(xiao)时
检(jian)测(ce)报告周期(qi)：
试验后，五个工(gong)作日出具检测报告。
