咨询热线：
021-61997300
13761118616
021-61997300
13761118616
产品列表PRODUCTS LIST
五金高温(wen)低温(wen)测试(shi)方法高低温试验箱：
1.预(yu)处(chu)理：将被测样品(pin)放置在正常的试验大气条件(jian)下，直至(zhi)达到温度(du)稳定。
2.初步检测(ce)：将测(ce)试样品与标(biao)准要(yao)(yao)求进行比(bi)较，满足要(yao)(yao)求后直接(jie)放(fang)入(ru)高低温试验箱(xiang)。
3、样品(pin)断(duan)电(dian)(dian)时，试(shi)验(yan)样品(pin)应(ying)按(an)标准要(yao)(yao)求放置在(zai)(zai)(zai)试(shi)验(yan)箱内，试(shi)验(yan)箱（室(shi)）内温(wen)度应(ying)降至-50℃，保持4小(xiao)时；不要(yao)(yao)在(zai)(zai)(zai)样品(pin)通(tong)(tong)电(dian)(dian)状态下(xia)进行低温(wen)测试(shi)，这一步非(fei)常重要(yao)(yao)，因(yin)为芯片本身在(zai)(zai)(zai)通(tong)(tong)电(dian)(dian)状态下(xia)会产生 20℃因(yin)此，在(zai)(zai)(zai)通(tong)(tong)电(dian)(dian)状态下(xia)，通(tong)(tong)常更(geng)容易通(tong)(tong)过低温(wen)试(shi)验(yan)，必(bi)须先冻透，再通(tong)(tong)电(dian)(dian)试(shi)验(yan)。
4、在低(di)温(wen)阶段(duan)结束后(hou)5min将试(shi)验(yan)(yan)样(yang)(yang)品(pin)转(zhuan)换为已调整的样(yang)(yang)品(pin)90℃保持在高温(wen)试(shi)验(yan)(yan)箱(xiang)(室)内4h或者直到(dao)测试(shi)样(yang)(yang)品(pin)达到(dao)温(wen)度(du)稳定，与低(di)温(wen)测试(shi)相反，加热过程(cheng)不断电(dian)，芯片内部温(wen)度(du)保持高温(wen)，4小时后(hou)执行A、B测试(shi)步骤。
5、进行老(lao)化测试(shi)，观察(cha)是否(fou)存(cun)在数据对比错误。
6、高(gao)温(wen)和(he)低温(wen)试(shi)验分别(bie)重复10次。
7、重复上述实(shi)验(yan)方法，以完成三个(ge)循环(huan)。根据样品的(de)大(da)小(xiao)(xiao)和空间(jian)的(de)大(da)小(xiao)(xiao)，时(shi)间(jian)可能略(lve)有误差(cha)。
8、恢复:试验(yan)(yan)样品从试验(yan)(yan)箱中取(qu)出后，应在(zai)正常试验(yan)(yan)大气条件下恢复，直至试验(yan)(yan)样品达到温度稳定。
9、后检测：根据标准中的损(sun)伤程度等方法(fa)评估检测结(jie)果。
如果测试过程(cheng)中没有正常(chang)工作(zuo)，则视为(wei)测试失败。
