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电路板老化性能测试方法耐高温老化试验箱
点击次数：524 更新时间：2022-06-06

电路板老化性能测(ce)试方(fang)法耐(nai)高温老化试验箱(xiang)：

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目的：

一般(ban)的工(gong)业(ye)冰箱里面，单片无焊接件(jian)使用方式(shi)固定，温(wen)度一般(ban)都在40℃~+55℃之中产生交替(ti)的变化，在这(zhei)个(ge)过程(cheng)中，较低的温度要保持 1小时然后再缓慢(man)恢复至室(shi)温(wen)，在(zai)室(shi)温(wen)情况(kuang)下要保持 4小时，4小时之后慢慢再升温，升到高设定(ding)温度(du)，这个状态也要保持 2小时，然后(hou)再缓慢(man)降至室温，这时候(hou)也需要保持(chi) 2小时，取出，检查最(zui)小线路(lu)并切带(dai)有(you)过(guo)孔(kong)的(de)健康状况。这(zhei)个过(guo)程要(yao)做两(liang)个循(xun)环才能更有(you)保证。

检(jian)测环境条(tiao)件

检测(ce)应在下(xia)列环境(jing)条件下(xia)进行 : 温度:15℃~35℃ 相对湿度(du):45%~75%大气(qi)压力:86~106Kpa。

老化前的要求：

电路板(ban)的(de)老也有两点要(yao)求，这两点要(yao)求分别是：

外观检测所有(you)要(yao)老(lao)化的功能板(ban)(ban)需先进行目测，对(dui)于(yu)有(you)明显(xian)缺陷的功能板(ban)(ban)，如(ru)有(you)短(duan)路，断路，元器件安(an)装错误，缺件等缺陷的功能板(ban)(ban)应予以剔除。

电参(can)数检测所有(you)要老化的功能板还(hai)需(xu)进行电参(can)数检测，对参(can)数不符合要求的功能板应予以剔除(chu)。

老(lao)化条(tiao)件：

1、如无其他规定(ding)，温度循环(huan)范围(wei)应(ying)为:0~60℃或10~60℃，可自行选定。

2、温度变(bian)化速率(由低(di)温(wen)到高温(wen)或者由高温(wen)到低(di)温(wen)的(de)变化过程(cheng)中的(de)平均值)1+0.5℃/min

3、热老化时间至少为 72h

试(shi)验(yan)方法：

1、将处于环境温度下的功能板放入处于同一温度下的热老化设备内

2、功能板处于运行状态。

3、然后设备内的温度应该以规定的速率降低到规定的温度值

4、当设备内的温度达到稳定以后，功能板应暴露在低温条件下保持 2h。5、然后设备内的温度应该以规定的速率升高到规定的温度

6、当设备内的温度达到稳定以后，功能板应暴露在高温条件下保持 2h。7、然后设备内的温度应以规定的速率降低到室温。

8、连续重复3至7。直到规定的老化时间，并且按规定的老化时间对功能板进行一次测量和记录。

9、功能板应在设备内的温度达到室温，且稳定后才能取出箱外。

恢(hui)复(fu)：

功能板取出后，应在规定的条件下放置并使之达到温度稳定，恢复时间至少为1h。