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简析高低温试验(yan)箱降温很慢的原(yuan)因：
分(fen)析：首先需要(yao)观(guan)察温度的(de)变化：
A.如果是温(wen)度降的(de)很慢，需(xu)要(yao)检查以下几点，做低温(wen)试(shi)(shi)(shi)验前是否(fou)已将(jiang)工作(zuo)室(shi)烘干，试(shi)(shi)(shi)验前需(xu)将(jiang)工作(zuo)室(shi)干燥，然(ran)后(hou)再放入试(shi)(shi)(shi)验样(yang)(yang)品(pin)(pin)试(shi)(shi)(shi)验；工作(zuo)室(shi)内的(de)试(shi)(shi)(shi)验样(yang)(yang)品(pin)(pin)是否(fou)放置的(de)过多，造(zao)成工作(zuo)室(shi)内的(de)风不能(neng)充分(fen)循环，在排除上(shang)述原因后(hou)，就要(yao)考虑是否(fou)是制(zhi)冷系统(tong)的(de)故障了，而制(zhi)冷系统(tong)的(de)检修需(xu)要(yao)厂家专(zhuan)业人(ren)员操作(zuo)。
B.如(ru)果(guo)温度(du)达到一定数值后有回(hui)升的(de)趋(qu)势，可先检查(cha)是否是恒(heng)温恒(heng)湿试验箱(xiang)的(de)使用环(huan)境所致，设备放(fang)置(zhi)(zhi)的(de)环(huan)境温度(du)以及放(fang)置(zhi)(zhi)的(de)位置(zhi)(zhi)(箱体后与墙的距离)是否(fou)满(man)足要(yao)求等(在设(she)备操作使用(yong)说明中都有规定)。
高(gao)低温(wen)试(shi)(shi)验箱适(shi)用于测试(shi)(shi)和确(que)定(ding)(ding)电工、电子(zi)及其他产品及材料进(jin)行高(gao)温(wen)、低温(wen)、或恒定(ding)(ding)试(shi)(shi)验的温(wen)度环境变化后的参数及性(xing)能(neng)。
高(gao)低(di)温试验箱箱具有模拟大气(qi)环(huan)境(jing)中(zhong)温度变化规(gui)律。主(zhu)要针(zhen)对于电工，电子产品(pin)，以及其元器(qi)件及其它材料(liao)在高(gao)温，低(di)温综合环(huan)境(jing)下运输，使用时的适应性试验。
高低温试验箱(xiang)设备(bei)主要(yao)是测(ce)试产(chan)品用于对(dui)电工、电子产(chan)品、元器(qi)件(jian)、零(ling)部(bu)件(jian)、金(jin)属材(cai)料及(ji)其(qi)在模拟高温、低温、湿热的气候条(tiao)件(jian)下，对(dui)产(chan)品的物(wu)以及(ji)其(qi)它相关性(xing)能(neng)进(jin)行测(ce)试。
