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电子器件冲击冷热可靠性测试方法
点击次数：388 更新时间：2022-07-05

电子器件(jian)冲击(ji)冷(leng)热可(ke)靠性(xing)测试(shi)方法：

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目的：

确定(ding)元(yuan)件曝露于高(gao)低(di)温极(ji)值下，以及高(gao)低(di)温极(ji)值交替(ti)冲击(ji)下所(suo)具有的抗(kang)御能(neng)力。试验样品的失效数应以后检测为依(yi)据(ju)。

试样制备：

样品预处理:

将被测(ce)样品放置在正常(chang)的试(shi)验(yan)大气条(tiao)件下，直(zhi)至达(da)到温度(du)稳(wen)定

样品初始检测:将被测样品与标准要求对照，符合要求后直接放入冷热冲击测试仪内准备进行测试。

样品试验:这个是正式的试验，是冷热冲击测试仪对产品进行测试的重要的步骤

先，冷(leng)热冲击测(ce)试(shi)(shi)仪(yi)试(shi)(shi)验样(yang)品需要严格按照冷(leng)热冲击箱执行标(biao)准的(de)要求放置在试(shi)(shi)验箱内，并将试(shi)(shi)验箱(室)内温度升到测试点，并保持足够的的时间至试验样品达到温度稳定，以时间长度为准，其次，务必在高温试验箱测试完毕之后，在5分钟内将试验样(yang)品转换到已调节到-55℃的低温试(shi)验箱(室)内，保持1小(xiao)时或(huo)者(zhe)直至试验(yan)样品达到(dao)温度(du)稳定，以时间长度(du)为准.再次(ci)，低温测试箱(xiang)完毕(bi)之后，在5分(fen)钟内将试验样品转换到已(yi)调(diao)节到70%℃的(de)高温(wen)试验箱(xiang)(室)内，保持1小时或者(zhe)直至试验样(yang)品达到温(wen)度(du)稳定，以时间长都为准。

后，为了保证材料高低温冷热冲击测试结果的准确性，请按照以上步骤重复三周期，重复上术实验方法。因为根据样件大小与空间大小，时间可能会略有误差.