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产品列表PRODUCTS LIST
车用电子(zi)产品(pin)可靠性测试(shi)方法老化箱：
高(gao)温老化测(ce)试是针(zhen)对(dui)高(gao)性(xing)(xing)能电子产(chan)(chan)(chan)品(pin)（如：计(ji)算机(ji)整机(ji)，车用电子产(chan)(chan)(chan)品(pin)，电源供应器(qi)(qi)，主机(ji)板、监视器(qi)(qi)等）模拟(ni)高(gao)温、恶劣环境(jing)的可(ke)靠(kao)性(xing)(xing)测(ce)试，是提高(gao)产(chan)(chan)(chan)品(pin)稳定性(xing)(xing)、可(ke)靠(kao)性(xing)(xing)的重要手(shou)段、是各生产(chan)(chan)(chan)企业提高(gao)产(chan)(chan)(chan)品(pin)质量和竞争(zheng)性(xing)(xing)的重要生产(chan)(chan)(chan)流程。
1、升温时(shi)间(jian)的(de)测试(shi)
将温(wen)(wen)度传感器置于高温(wen)(wen)老(lao)化试(shi)验箱工作空(kong)间(jian)內任意(yi)一点，用全功率(lv)加热，记录(lu)工作室温(wen)(wen)度从(cong)室温(wen)(wen)升至(zhi)第一次达到高工作温(wen)(wen)度的时(shi)间(jian)，其(qi)结果应不超过120min。
2.表面温度(du)测试
在高温(wen)(wen)老化试(shi)验箱工作(zuo)温(wen)(wen)度(du)(du)(du)(du)第一次达到(dao)高工作(zuo)温(wen)(wen)度(du)(du)(du)(du)并稳(wen)定2h后，用(yong)温(wen)(wen)度(du)(du)(du)(du)计(ji)测试(shi)箱体表(biao)面的温(wen)(wen)度(du)(du)(du)(du)，其高工作(zuo)温(wen)(wen)度(du)(du)(du)(du)不(bu)超(chao)过200℃的试(shi)验箱，表(biao)面温(wen)(wen)度(du)(du)(du)(du)应不(bu)大于室温(wen)(wen)加(jia)35℃；高工作(zuo)温(wen)(wen)度(du)(du)(du)(du)超(chao)过200℃，表(biao)面温(wen)(wen)度(du)(du)(du)(du)应按式(shi)决(jue)定。
3.绝缘电(dian)阻测(ce)试
应(ying)按(an)GB998中第6.2条规定方法进行测试，其(qi)结果应(ying)符合电加热器(qi)端(duan)子（包括引线）与控(kong)制系统开路时，对箱壳应(ying)承受电压1500V，交(jiao)流50H，历(li)时1min的绝(jue)缘强(qiang)度试验，其(qi)绝(jue)缘应(ying)不(bu)被击穿。
4、绝(jue)缘强度试验
应(ying)(ying)按GB998中第6.3条规定进行(xing)试验(yan)(yan)，试验(yan)(yan)结果符合电加(jia)热器端子（包括(kuo)引线）与控制(zhi)系(xi)统开(kai)路时(shi)，对箱壳(qiao)应(ying)(ying)承受电压1500V，交(jiao)流50H，历时(shi)lmin的绝缘强度(du)试验(yan)(yan)，其(qi)绝缘应(ying)(ying)不被击穿(chuan)。
