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电子产品高温低温老化测试方法步入式高低温试验箱
点击次数:338 更新时间:2022-09-06

电子(zi)产(chan)品高温(wen)低温(wen)老(lao)化测试(shi)方(fang)法步入(ru)式高低温(wen)试(shi)验箱:

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步入式高低温(wen)试(shi)验主(zhu)要用过(guo)测试电子产品、零部件(jian)在在高温、低温综合环(huan)境下各项性能指标。而对(dui)于(yu)汽车(che)来说,不管是IC、仪表板(ban)、马(ma)达、蓝(lan)牙、车(che)(che)灯、外壳、还是整车(che)(che)等(deng)都需要用(yong)到高(gao)低温试验确保其性能可(ke)以(yi)在汽车(che)(che)行驶的过程中(zhong)正常(chang)稳定运行。步入式(shi)高(gao)低温试验箱是为(wei)了满足(zu)用(yong)户对大(da)容积(ji)试验空间(jian)的要求而(er)设计的,它从结构(gou)上可(ke)分(fen)为(wei)整体焊(han)接(jie)式(shi)和拼(pin)装式(shi)。

准备(bei)测试(shi)设(she)备(bei):需要使用能够控制温度的高低温测试(shi)设(she)备(bei),如(ru)高低温循环箱(xiang)(xiang)、烤(kao)箱(xiang)(xiang)等。

制定测(ce)试(shi)计(ji)划(hua):根(gen)据产品(pin)的(de)规(gui)格书和(he)测(ce)试(shi)标准,制定详细的(de)测(ce)试(shi)计(ji)划(hua),包括测(ce)试(shi)条(tiao)件、测(ce)试(shi)持续时间、测(ce)试(shi)结果(guo)等(deng)。

样品准(zhun)备:选择一定数(shu)量(liang)的样品进(jin)行测试(shi),并(bing)按照产品规格(ge)书要求的方式进(jin)行安装(zhuang)和连接。

预热:在进行测(ce)试前(qian),需要将(jiang)测(ce)试设备预热至测(ce)试温度,以确保测(ce)试环境稳(wen)定。

开始测(ce)试(shi):将样品放(fang)入测(ce)试(shi)设备中(zhong)进(jin)行测(ce)试(shi),测(ce)试(shi)时间和温度要符合测(ce)试(shi)计划中(zhong)的要求。

监测和(he)记(ji)(ji)录:测试过程中需要(yao)及时监测样(yang)品(pin)的工作状态(tai),如电(dian)流、电(dian)压、功(gong)耗(hao)等,并(bing)记(ji)(ji)录测试结果。

测(ce)(ce)试后处理(li):测(ce)(ce)试结束后,需(xu)要对(dui)测(ce)(ce)试数据进行分析和(he)处理(li),如制作测(ce)(ce)试报告、评估产品的性能和(he)可靠性等。

高(gao)低温测试检测标准:

电(dian)工电(dian)子产品环境试(shi)验 2 部分:试验方法 试验 A:低温 GB/T 2423.1-2008IEC 60068-2-1:2007

电(dian)工电(dian)子(zi)产品(pin)环境试(shi)验(yan) 第(di) 2 部分:试(shi)(shi)验方法 试(shi)(shi)验 B:高温(wen) GB/T 2423.2-2008 IEC 60068-2-2:2007

试验条件:将电子产品放(fang)入高低温试验箱通电老化

高(gao)温(wen)参数设(she)置:温(wen)度45℃、湿度(du)80% RH、时间24 hrs

低温参(can)数设置:低温0℃、时间(jian)24 hrs

试验方(fang)法:

试验一(yi):高温运行

1、样品应在不包装、不同(tong)点和(he)正常(chang)工作位置(zhi)的(de)状态下放入具有室(shi)温的(de)试验箱内,

2、箱内温(wen)度逐渐升温(wen)至所设置的温(wen)度,当(dang)电(dian)子产品(pin)达到(dao)温(wen)度稳定后(hou),接(jie)通电(dian)源持续工作16小(xiao)时,

3、样品断开电源(yuan),箱(xiang)内温度降低至正常(chang)(chang)试验大气条件范围内的常(chang)(chang)温常(chang)(chang)压(ya)下,

4、恢(hui)复两(liang)小时;

5、对试验产(chan)品进行全方面的检(jian)测。

试验二:低温运行

1、电子产(chan)品应在不包装、不同点和正(zheng)常工作位(wei)置的状态下放入具(ju)有室(shi)温的试验箱内;

2、高低温(wen)试验(yan)箱(xiang)内温(wen)度逐渐(jian)降低至所设置的温(wen)度,当样品达到温(wen)变稳定后搁置2小(xiao)时,然后接通(tong)电源(yuan)持续工(gong)作(zuo)1小时;

3、样品断开电源,试验箱内(nei)温度降低至正常(chang)试验大气条(tiao)件范围(wei)内(nei)的常(chang)温常(chang)压(ya)下,

4、箱(xiang)内温(wen)度上升至正常试验大气(qi)条件范(fan)围内的常温(wen)常压下,

5、恢(hui)复两(liang)小时(shi);

6、对(dui)试(shi)验产品进(jin)行全方面的检测(ce);判(pan)定标准: