咨询热线：
021-61997300
13761118616
021-61997300
13761118616
产品列表PRODUCTS LIST
电子(zi)零配件(jian)热空气老化试验(yan)方法老化试验(yan)箱：
目的：
1.温度老化(hua)试验
温(wen)度老(lao)化试(shi)验通常(chang)使用高(gao)温(wen)、恒温(wen)、逐渐升(sheng)高(gao)的(de)(de)方式进行，在不同时间间隔内观测样(yang)品(pin)的(de)(de)性能(neng)变化情况，以评估其(qi)使用寿命和可(ke)靠性。
2.湿度(du)老化试验
湿(shi)度(du)(du)老化试(shi)验主要是通过加(jia)湿(shi)的(de)方(fang)式，模(mo)拟不同(tong)湿(shi)度(du)(du)和温度(du)(du)环(huan)境下(xia)的(de)使用情况，以评估样(yang)品的(de)耐湿(shi)度(du)(du)性能和长期使用可靠(kao)性。
3.气氛老化试验
气氛(fen)老(lao)化试验主要是模拟工业环境(jing)下高(gao)污染、高(gao)湿度(du)、高(gao)温度(du)、高(gao)氧(yang)化等复杂环境(jing)，以(yi)评估电子器(qi)件及产品(pin)的长期可靠性。
4.光照(zhao)老化试验(yan)
光(guang)(guang)照(zhao)老化试验主要是通过人工模(mo)拟阳(yang)光(guang)(guang)光(guang)(guang)谱，定期观测样品的(de)光(guang)(guang)衰变化情(qing)况(kuang)，以评(ping)估其(qi)耐光(guang)(guang)性(xing)能和长期使用(yong)可靠性(xing)。
执行标准
在进行(xing)电子器件及产品老(lao)化(hua)试(shi)验时(shi)，通常需要(yao)遵从一定的(de)执行(xing)标(biao)准(zhun)，以保证(zheng)测试(shi)的(de)科学性、可靠性和准(zhun)确性。常见(jian)的(de)执行(xing)标(biao)准(zhun)有：
《电子元件老化(hua)试验方法(fa)》GB/T 2423.22-20082.
《电(dian)子元器件老化参数的(de)选(xuan)取》GB/T 2423.25-20163.
《电工电子产品老化(hua)试验(yan)导(dao)则(ze)》GB/T 21554-20084.
《集(ji)成(cheng)电路芯片可靠性试验(yan)方法》GB/T 9452-20055.
《绝缘(yuan)材料老化试验方法》GB/T 3512-2008
测试条件
在进行(xing)电子器(qi)件(jian)及(ji)产品老化试验时，需(xu)(xu)要(yao)考(kao)虑到不同测试项(xiang)目和执行(xing)标准(zhun)对环(huan)境条件(jian)的要(yao)求有(you)所不同。一般情况下(xia)，电子器(qi)件(jian)及(ji)产品老化试验需(xu)(xu)要(yao)按照以下(xia)基本条件(jian)进行(xing)：
1.温度：在温度范围(wei)内进行，常见(jian)的要求为-40℃~+85℃。
2.湿度(du)：通(tong)常为30%~90%RH。
3.气氛：根据不(bu)同(tong)执(zhi)行标准的要求，可(ke)能需要进(jin)行氧(yang)气、氮(dan)气、光强等多方面的考虑。
4.光(guang)照：光(guang)谱曲线、光(guang)强等参数也会受到执行标准的要求而有所(suo)不同。
测试报告
在完成电子(zi)器件及(ji)(ji)产品老(lao)化(hua)试(shi)(shi)(shi)验后，需要提交相应的测(ce)(ce)试(shi)(shi)(shi)报告。测(ce)(ce)试(shi)(shi)(shi)报告主要包括样品信(xin)息、测(ce)(ce)试(shi)(shi)(shi)环境、测(ce)(ce)试(shi)(shi)(shi)方(fang)(fang)法、测(ce)(ce)试(shi)(shi)(shi)数(shu)据、测(ce)(ce)试(shi)(shi)(shi)结果和分析以及(ji)(ji)结论等(deng)方(fang)(fang)面细(xi)节。测(ce)(ce)试(shi)(shi)(shi)报告的准确(que)性和详细(xi)性对于后续的产品设计(ji)、开发和生产过程都具有重要意义。
