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仪器仪表高低温循环测试方法
点击次数：366 更新时间：2022-10-18

仪器仪表高低温循环测试方法：

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高(gao)低温循(xun)环试验（又称高(gao)低温循(xun)环试验、高(gao)低温试验等(deng)）主(zhu)要针(zhen)对电工、电子产品(pin)、原装置等(deng)材料(liao)在高(gao)低温环境下储存、运(yun)输和(he)使用的(de)适应(ying)性试验。

高低温循环试验是(shi)指设定温度从-50℃保持(chi)4小时后，加热到+90℃，然后，在+90℃保持(chi)4小时，冷却至(zhi)-50℃小时，依次做N个(ge)循环。

工(gong)业级温度标准(zhun)-40℃～+85℃，由于(yu)温箱通常有温差(cha)，为(wei)了(le)确保(bao)客户端(duan)不会因温度偏差(cha)而导致测试(shi)结果不一致，建议使用标准(zhun)温度进(jin)行内部(bu)测试(shi)±5℃测试(shi)温差(cha)。

试验流程：

1、样品断电时，首先将温度降至-50℃，保持4小时；

样品通电状(zhuang)态(tai)下不进(jin)行低(di)温(wen)(wen)试验非常重要，因(yin)为在通电状(zhuang)态(tai)下，鞋本身会产(chan)生+20℃以上温(wen)(wen)度，因(yin)此，在通电状(zhuang)态(tai)下，通常比(bi)较容易通过低(di)温(wen)(wen)测(ce)试，必须先将其(qi)“冻透"，再通电进(jin)行测(ce)试。

2、开机时，对样品进行性能测试(shi)，对比(bi)性能与常温(wen)相比(bi)是否(fou)正常。

3、进行老化测试(shi)，观察是否存在(zai)数据(ju)对比(bi)错误。

4、升温(wen)到+90℃，保(bao)持4小时，与低(di)温(wen)试验相反，加热过(guo)程不断电，保(bao)持鞋内温(wen)度处于高温(wen)状态，4小时后，实施(shi)2小时、3、4测试步(bu)骤。

5、高温和低温试验分别重复10次。

如果在测试过程中出现任何(he)不能正(zheng)常工作的状态，则(ze)视为测试失败(bai)。

参考标准：

GBA2423.1-2008试验A：低温试验方法

GBB2423.2-2008试验(yan)(yan)B：高(gao)温试验(yan)(yan)方法

GBN242.22-2002试验(yan)(yan)N2：温(wen)度(du)变(bian)化试验(yan)(yan)方法

高温试验

高温试(shi)验是(shi)用来确定产(chan)品在高温气候环境条件下(xia)储存、运输、使用的(de)适(shi)应性。试(shi)验的(de)严苛程度(du)取决于高温的(de)温度(du)和曝露持续(xu)时间。

参考(kao)的(de)测试标准(zhun)：GB/T 2423.2、IEC 60068-2-2、IEIA 364、MIL-STD-810F等。

低温试验

低温试验(yan)是(shi)用来(lai)确定产品(pin)在低温气(qi)候环境条件(jian)下储存、运输、使用的(de)适应性。试验(yan)的(de)严(yan)苛程度(du)取决于低温的(de)温度(du)和曝露持(chi)续时(shi)间。

参考的测试标准(zhun)：GB/T 2423.1、IEC 60068-2-1、EIA 364、MIL-STD-810F等。

温度冲击试验

温(wen)度冲击试(shi)验(yan)是确定产品在(zai)温(wen)度急剧变化的气候环境(jing)下储存(cun)、运输、使用的适应性。试(shi)验(yan)的严苛程度取决于高/低温(wen)、驻留时间、循(xun)环数。

测试(shi)标准：IEC60068-2-14、GB2423.22、GJB150.5等

快速温变试验

快速(su)温(wen)变试验(yan)是用来确定产品(pin)在(zai)高温(wen)、低温(wen)快速(su)或缓慢变化的气(qi)候环境下的储存(cun)、运输、使用的适应性。