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产品列表PRODUCTS LIST
手机可(ke)靠性性能测试方法(fa)恒温(wen)恒湿试验箱：
目的
此可靠(kao)性(xing)(xing)测试标准(zhun)的(de)(de)目的(de)(de)是(shi)尽可能(neng)的(de)(de)挖掘设(she)计、制造(zao)过程中潜在(zai)的(de)(de)问题(ti)，在(zai)正式投产(chan)(chan)(chan)之前找到(dao)改善的(de)(de)方法(fa)并解决上述问题(ti)点，为(wei)正式生产(chan)(chan)(chan)在(zai)产(chan)(chan)(chan)品(pin)质量(liang)上作必要的(de)(de)保证；并检(jian)测产(chan)(chan)(chan)品(pin)是(shi)否具(ju)备设(she)计上的(de)(de)成熟性(xing)(xing)，使(shi)用上的(de)(de)可靠(kao)性(xing)(xing)。具(ju)体包括新产(chan)(chan)(chan)品(pin)的(de)(de)实验，物料的(de)(de)实验以及例(li)行抽检(jian)实验等。
可(ke)靠性测试(shi)项(xiang)目及方法
高温(wen)储存试验
试验目的(de)：检(jian)验产(chan)品在(zai)高温环(huan)境条件下存(cun)储的(de)适应性。
试(shi)验设备：恒(heng)温恒(heng)湿(shi)试(shi)验箱(xiang)
试(shi)验(yan)内容：试(shi)验(yan)样机带电池及电池后盖，不插SIM卡关机(ji)(ji)状态以正(zheng)(zheng)常位置放(fang)进试(shi)验箱(xiang)内(nei)。使试(shi)验箱(xiang)在(zai)30分钟内(nei)温度达到70±2℃，温度稳(wen)定后(hou)(hou)(hou)持(chi)续(xu)48小(xiao)时。持(chi)续(xu)期(qi)满后(hou)(hou)(hou)将试(shi)验样(yang)(yang)机(ji)(ji)在(zai)正(zheng)(zheng)常大(da)气条件下放(fang)置2小(xiao)时，之后(hou)(hou)(hou)对试(shi)验样(yang)(yang)机(ji)(ji)进行(xing)试(shi)验后(hou)(hou)(hou)检查。
判定标(biao)准：通过基本(ben)功能测(ce)试，外观(guan)及结构正常。
低温储存试验
试验(yan)目的：检验(yan)产品在低温环境(jing)条件(jian)下存(cun)储(chu)的适应性。
试验(yan)设备：恒温恒湿(shi)试验(yan)箱
试(shi)验内容：试(shi)验样(yang)机(ji)（需包装）带电池及(ji)电池后盖，不插(cha)SIM卡(ka)关机状态以正常位置放(fang)进试(shi)(shi)验(yan)箱内。使试(shi)(shi)验(yan)箱在(zai)30分钟内温度(du)达到-20±3℃，温度(du)稳定后(hou)持续48小(xiao)时。持续期满后(hou)将试(shi)(shi)验(yan)样机在(zai)正常大气条件下放(fang)置2小(xiao)时，之后(hou)对试(shi)(shi)验(yan)样机进行试(shi)(shi)验(yan)后(hou)检(jian)查。
判(pan)定(ding)标准：通过(guo)基本功能(neng)测试，外观及结构正常。
高温工作试验(yan)
试(shi)验(yan)(yan)目的：检验(yan)(yan)产品在高温(wen)环境条件下使用的适应性
试(shi)验设(she)备：恒(heng)温恒(heng)湿(shi)试(shi)验箱
试验(yan)内容：试验(yan)样机带(dai)电池(chi)及电池(chi)后盖(gai)，插上SIM卡(ka)及T卡(ka)，处于待机(ji)状态(tai)（滑/翻(fan)盖处于打(da)开(kai)状态(tai)），以正(zheng)常位置放(fang)进(jin)试(shi)验(yan)箱内(nei)。使试(shi)验(yan)箱在30分钟(zhong)内(nei)温(wen)度(du)达到55±2℃，温(wen)度(du)稳定(ding)后持(chi)续8小时。持(chi)续期满后立即对(dui)测试(shi)样机(ji)进(jin)行(xing)试(shi)验(yan)后检查。
判定标准：通过(guo)基本(ben)功能测试，外观及结构正常。
低温工作试验
试(shi)验(yan)目的(de)：检验(yan)产品在低温环境条件下使用(yong)的(de)适(shi)应性
判定标(biao)准：通过基本功能测试，外观及结构正常(chang)。
高(gao)温(wen)工作试验
试(shi)验目的(de)：检验产品在(zai)高温环境条件下使用的(de)适应性
试(shi)验设备：恒温恒湿试(shi)验箱(xiang)
试(shi)验内容：试(shi)验样机带电池(chi)及电池(chi)后盖，插上SIM卡(ka)及T卡(ka)，处(chu)于(yu)(yu)待机状(zhuang)态（滑/翻盖处(chu)于(yu)(yu)打开状(zhuang)态），以正(zheng)常位置放进试(shi)验(yan)箱内(nei)。使试(shi)验(yan)箱在(zai)30分钟内(nei)温度达到55±;2℃，温度稳定后(hou)(hou)持续8小时。持续期满(man)后(hou)(hou)立即(ji)对测试(shi)样(yang)机进行(xing)试(shi)验(yan)后(hou)(hou)检查。
判定标准：通(tong)过基本功能测试，外观及结构正常。
稳定后持续8小时。持(chi)续(xu)期满(man)后(hou)立即(ji)对(dui)测试样(yang)机进行(xing)试验后(hou)检查。
判定标准：通过基本功能测试，外观及(ji)结构正常(chang)。
