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平板电脑高低温循环性能测试方法高低温环境箱
点击次数：301 更新时间：2023-03-01

平板(ban)电脑高低温循(xun)环性能(neng)测(ce)试方法(fa)高低温环境箱(xiang)：

目的(de)：很多工业控制场(chang)景下，对工控平(ping)板电(dian)脑、工控一体机、触摸(mo)屏的(de)环境适应(ying)性，特别是(shi)温(wen)度的(de)适应(ying)性要求。

设(she)备：高低温(wen)环境(jing)试验(yan)箱

测试方法(fa)：

高温运行测试

测试(shi)前先对整机(ji)基本功能进(jin)行测试(shi)，检查外(wai)观(guan)结构正常。工程师按照(zhao)MIL-STD-810G方法501.5高温过程，整(zheng)机(ji)处于(yu)工作状态，以正常位置放入试(shi)验箱(xiang)内(nei)，温度设置60℃，连接适配器跑本地1080P视频运行(xing)24H，每(mei)12H小时检查(cha)一(yi)次，升降(jiang)温时间(jian)2H。

判断标准：在(zai)高温工(gong)作期(qi)间，不(bu)能(neng)(neng)出现(xian)系(xi)统死机(ji)、重启、蓝屏(ping)等系(xi)统运行不(bu)稳定现(xian)象；视频图像、触摸、声(sheng)音、按键(jian)功能(neng)(neng)检查(cha)；测试后检查(cha)机(ji)器基本功能(neng)(neng)，不(bu)能(neng)(neng)出功能(neng)(neng)失效问题；检查(cha)显(xian)示(shi)不(bu)能(neng)(neng)出现(xian)水印、白(bai)点、白(bai)斑等。

低温运(yun)行(xing)测试

测试(shi)前先对整机基本功能进行测试(shi)，检查外(wai)观结构正(zheng)常(chang)。工程(cheng)师按照(zhao)MIL-STD-810G方(fang)法501.5低温(wen)过程，整(zheng)机75%电(dian)量，处于工作状态，以正常位置放(fang)入试验箱内(nei)，温度(du)设置-20℃，连接适配器跑本(ben)地1080P视频运行24H，每12H小时检查一次(ci)，升(sheng)降温时间2H。

判断标(biao)准：在(zai)低温工作期间，不能(neng)出(chu)现系统(tong)死机(ji)、重启、蓝屏等(deng)系统(tong)运行(xing)不稳定现象；视频(pin)图像(xiang)、触(chu)摸、声音、按(an)键功(gong)能(neng)检查(cha)(cha)；测试后检查(cha)(cha)机(ji)器基本(ben)功(gong)能(neng)，不能(neng)出(chu)功(gong)能(neng)失(shi)效问题；检查(cha)(cha)显(xian)示不能(neng)出(chu)现水(shui)印、白点、白斑等(deng)。

高温(wen)存储测试

测试(shi)前先(xian)对整机(ji)基本功能进行测试(shi)。关机(ji)状态(tai)，70°C+/-2°C，持续时间48 Hrs，升(sheng)降温时间(jian)为2小时，常温(wen)下(xia)恢(hui)复1小时再检查电量及基本功(gong)能。

判(pan)断标准：室(shi)温环境，研维工(gong)程师测试(shi)整机基(ji)本功能无功能性问(wen)题；检查产品外观(guan)和结构正常。

低温存(cun)储(chu)测试

测试(shi)前先对整(zheng)机(ji)基本功(gong)能进行测试(shi)。关机(ji)状态，-30°C+/-2°C，持续时间24 Hrs，升降温(wen)时间为2小时，常温下恢复(fu)2小时再检(jian)查(cha)电(dian)量及基本(ben)功(gong)能。

判断标(biao)准：室温环境，程师测(ce)试整(zheng)机基本功(gong)能无功(gong)能性问题；检(jian)查产品(pin)外观和结构(gou)正(zheng)常。