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步入式恒温恒湿老化房适用于(yu)整(zheng)机(ji)(ji)(ji)或大(da)(da)型零部件的(de)低(di)温(wen)、高(gao)温(wen)、高(gao)低(di)温(wen)变(bian)化(hua)、恒定湿(shi)(shi)(shi)热、高(gao)低(di)温(wen)交变(bian)湿(shi)(shi)(shi)热试验等(deng)。为产业(ye)界提供大(da)(da)型零件，半成(cheng)品(pin)，成(cheng)品(pin)之大(da)(da)型温(wen)湿(shi)(shi)(shi)度测试环境空间，适合于(yu)测试产品(pin)量多、体(ti)(ti)积大(da)(da)之试验设备如：电脑(nao)终端机(ji)(ji)(ji)、汽车零件。主要由控制(zhi)面版、配电盘、保湿(shi)(shi)(shi)库板送风机(ji)(ji)(ji)、加热器(qi)(qi)、加湿(shi)(shi)(shi)器(qi)(qi)、冷(leng)冻机(ji)(ji)(ji)组合而成(cheng)。还可根(gen)据用户要求改变(bian)工(gong)作(zuo)室尺寸(cun)与功能等(deng)；拼块式箱(xiang)体(ti)(ti)，造型美观大(da)(da)方；科(ke)学(xue)的(de)风道(dao)设计，能满(man)足(zu)不同(tong)客户的(de)需(xu)求。

步入式恒温恒湿老化房用途：该设备(bei)主要(yao)(yao)是针对于电工、电子产品(pin)，以(yi)及其(qi)原器件，及其(qi)它材料在高温(wen)(wen)、低温(wen)(wen)的环(huan)境下贮存(cun)、运输(shu)、使用(yong)时的适应(ying)性试(shi)验。该试(shi)验设备(bei)主要(yao)(yao)用(yong)于对产品(pin)按照国家(jia)标准要(yao)(yao)求(qiu)或用(yong)户自定要(yao)(yao)求(qiu)，在低温(wen)(wen)、高温(wen)(wen)、条件下，对产品(pin)的物理以(yi)及其(qi)他(ta)相关(guan)特(te)性进行环(huan)境模拟(ni)测(ce)试(shi)，测(ce)试(shi)后，通过检测(ce)，来判(pan)断产品(pin)的性能，是否仍然能够符合预定要(yao)(yao)求(qiu)，以(yi)便(bian)供产品(pin)设计、改进、鉴定及出厂检验用(yong)。

应用的行业：适合电(dian)子、塑(su)胶制品、电(dian)器、仪表(biao)、食品、车辆、金属、化学(xue)、建材、航天、医疗等制品检测质量之用(yong)。

产品(pin)的(de)特点：

1、制冷机采用(yong)法国原(yuan)装“泰(tai)康(kang)"全封闭压(ya)缩机。

2、冷(leng)冻(dong)系统采用单(dan)元(yuan)或二元(yuan)式(shi)低(di)温回路(lu)系统设(she)计(ji)。

3、采用(yong)多翼式(shi)送风机强力(li)送风循环，避免任何死(si)角，可使测试区域内温度分布(bu)均匀。

4、风(feng)路(lu)循环(huan)出风(feng)回(hui)风(feng)设计(ji)，风(feng)压、风(feng)速均符合测(ce)试标准，并可使开门瞬间温(wen)度回(hui)稳时间快。5、升温(wen)、降(jiang)温(wen)、系(xi)统(tong)独立可提高(gao)效(xiao)率(lv)，降(jiang)低测(ce)试成本，增(zeng)长寿命(ming)，减低故(gu)障率(lv)。

6、温(wen)度控制采用全进口触(chu)摸按键式仪表，操作设定简单。

7、资料及试验(yan)条件输入后，控制器具有(you)锁定功(gong)能，避免人为触(chu)摸而改变温(wen)度(du)值。

8、具(ju)有P.I.D自动(dong)演算的功能，可将温度变化条件立即修正，使温度控(kong)制更为(wei)精确稳定。

满足标准:

GB/T10589-2008 低温试验箱技术(shu)条件

GB/T 10592-2008 高低温试验(yan)箱技术条件

GB/T 24231-2008/IEC608-2-1低温试验方法

GB/T 24232-2008/IEC60068-2-2 高温试(shi)验(yan)方法

GB/T 24233-2008/IEC60068-2-78 恒定混(hun)热试验方法

GB/T24234-2008/IEC60068-2-30交变(bian)混热试验方法

GB/T 242322-2008温度变化速率试(shi)验方法

GJB 1503A-2009 高温试验方(fang)法

GJB 1504A-2009低温试验(yan)方法

GTB 1509A-2009湿热试(shi)验(yan)方法

GB/T 5170.2-2008 电工电子产品环(huan)境(jing)试验设备

工作(zuo)室尺寸：1350*1600*2800mm

技术(shu)参数：