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遮盖力反射率测定仪是涂层(ceng)检测仪器，可用于漆膜遮(zhe)盖力的测定。全符合国际标准ISO3906-1980(E)、国(guo)家标准GB/T13452.3-92、GB9270-88、GB5211.17-88对该仪器的(de)规定要求。

遮盖力反射率测定仪工作原理

本仪器由(you)探(tan)头、主体、标(biao)准板（黑白(bai)各一块）、工作陶瓷板(黑白各(ge)两块)等组成。

探(tan)头采用0°照射(she)，漫(man)反射(she)接收的原(yuan)(yuan)理(li)。当(dang)试样(yang)的反射(she)光(guang)作用于硅光(guang)电池表面产(chan)生电讯号(hao)输入到(dao)直(zhi)流放(fang)大器(qi)进(jin)行(xing)放(fang)大，并予以读数显示（详见光(guang)路原(yuan)(yuan)理(li)图及仪器(qi)框(kuang)图）。

技术参数：

1、测量范围：0～100

2、重复(fu)精度：0.3%

3、显示数据与反射光强(qiang)度成正比

4、仪器的光普灵敏度近似等于Sc与Y的乘积

5、环境温(wen)度：20°±5°相对湿度<85%

6、输(shu)入电源：220V±10%50Hz

使用方法(fa)：

1、把探(tan)头与(yu)电控箱连接(jie)，同(tong)时接(jie)上电源(yuan)，开(kai)机预(yu)热10-15分钟。此时应(ying)把探(tan)头放在黑色标准板上为(wei)佳。

2、校零(ling)：把(ba)探头放在黑色标准板上(shang)，调(diao)整主机(ji)上(shang)的校零(ling)旋钮，使主机(ji)数字显示为000.0，允许变(bian)动±0.1.

3、校(xiao)正标准(zhun)值：把探头放在白(bai)色(se)标准(zhun)板(ban)上，调(diao)整主(zhu)机的校(xiao)标旋钮(niu)，使主(zhu)机显示的数值与白(bai)色(se)标准(zhun)板(ban)的标定(ding)一致。允许变动±0.1反(fan)复调(diao)整一次（校(xiao)零、校(xiao)标）。

4、测(ce)量RB值(zhi)(zhi)：把探头移至放(fang)有试样的黑(hei)色工作(zuo)陶瓷板上，显示器所显示的数值(zhi)(zhi)即为RB值(zhi)(zhi)。

5、测量(liang)RW值(zhi)：把探头移至放有试样的白(bai)色工作(zuo)陶瓷板上(shang)，显示器(qi)所显示的数值(zhi)即(ji)为(wei)RW值(zhi)。

6、计算求得对比率(lv)  对比率(lv)（遮(zhe)盖(gai)率(lv)）= RB/RW ×100%

注(zhu)意事项

1、为(wei)保证测(ce)量精度，测(ce)量环境温度应(ying)接(jie)近(jin)25°C。仪(yi)器应(ying)经常校(xiao)准，允许偏差为(wei)±0.3，若大(da)于(yu)0.3需要新校(xiao)准。

2、为(wei)克服硅(gui)光电池(chi)的(de)光照疲劳现象，在(zai)测试的(de)间隙时间内应将探(tan)头(tou)放在(zai)黑色标准板上面。减少(shao)插(cha)头(tou)的(de)拔插(cha)次数，以免损坏插(cha)头(tou)，造成接触不良。

3、白色标准版应远离污染，否则会(hui)影响测量精(jing)度。如有(you)污渍(zi)可用(yong)高级(ji)绘图橡皮除净。

4、试(shi)样的(de)制备应严格依(yi)照相关的(de)国家标(biao)准GB9271-88的(de)规(gui)定(ding)进(jin)行。