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电子(zi)产(chan)品做(zuo)高低(di)温(wen)试(shi)验项目(mu)标准与方(fang)案

高(gao)(gao)低(di)温(wen)测试又叫作(zuo)高(gao)(gao)低(di)温(wen)循环(huan)测试，是(shi)环(huan)境(jing)可靠(kao)性测试中的(de)一项(xiang)，试验(yan)目(mu)的(de)是(shi)评(ping)价高(gao)(gao)低(di)温(wen)条件(jian)对装(zhuang)备(bei)在(zai)(zai)存(cun)(cun)(cun)储和工作(zuo)期间(jian)的(de)性能影(ying)响。基本(ben)上所(suo)有的(de)产(chan)(chan)(chan)品(pin)(pin)都(dou)是(shi)在(zai)(zai)一定(ding)的(de)温(wen)度环(huan)境(jing)下(xia)存(cun)(cun)(cun)储保存(cun)(cun)(cun)，或(huo)者工作(zuo)运(yun)行。因为产(chan)(chan)(chan)品(pin)(pin)在(zai)(zai)制(zhi)造、搬(ban)运(yun)或(huo)储存(cun)(cun)(cun)应用时会(hui)面临着(zhe)各种各样(yang)不同的(de)温(wen)湿(shi)度、气(qi)候以及外界条件(jian)的(de)等等影(ying)响。电子产(chan)(chan)(chan)品(pin)(pin)高(gao)(gao)低(di)温(wen)试验(yan)是(shi)比(bi)较普(pu)遍的(de)气(qi)候环(huan)境(jing)适应性试验(yan)检(jian)测项(xiang)目(mu)类型之一，高(gao)(gao)低(di)温(wen)试验(yan)尤为常见(jian)。

1. 高温试验：

高温试(shi)验是(shi)用来确(que)定产品(pin)在高温气候环境(jing)条件下储存(cun)、运输、使用的适应性。试(shi)验的严苛程度取决于高温的温度和曝露持续时(shi)间。

参考的测试标准：GB/T 2423.2、IEC 60068-2-2、IEIA 364、MIL-STD-810F等。

测试目的(de)：检验产品在高(gao)温环境条件下(xia)使用(yong)(yong)的(de)适(shi)用(yong)(yong)性
测试设备：恒温恒湿测试箱
测试样(yang)品：电子产品
测(ce)试内容：被测(ce)产(chan)品不(bu)包装、处于导通状态，以正常位置放入(ru)测(ce)试箱内，使温度(du)达到(dao)+55±2℃,温度(du)稳定后，持续(xu)8小(xiao)时，持续(xu)期满，进(jin)行产(chan)品测(ce)试后的(de)检(jian)查。
判定(ding)标准：通(tong)过基本功能测(ce)试；外观和结构正(zheng)常。
2. 低温试(shi)验：

低温(wen)试(shi)验是用(yong)(yong)来确(que)定(ding)产品在低温(wen)气候(hou)环境条件下储存(cun)、运(yun)输(shu)、使用(yong)(yong)的(de)适(shi)应性。试(shi)验的(de)严苛程度(du)取决(jue)于低温(wen)的(de)温(wen)度(du)和曝露(lu)持续时间(jian)。

参考的测(ce)试标准：GB/T 2423.1、IEC 60068-2-1、EIA 364、MIL-STD-810F等(deng)。

测试目的：检(jian)验产品(pin)在低温环境条件(jian)下使用的适(shi)用性。
测(ce)试(shi)设备(bei)：高低温测(ce)试(shi)箱
测试样品：电子产品
测试(shi)内(nei)容：被测产品不(bu)包装、处于导通状(zhuang)态(tai)，以(yi)正常位置(zhi)放入测试(shi)箱(xiang)内(nei)，使温度达到-20±3℃,温度稳(wen)定后，持续8小时，持续期满(man)，进(jin)行产品测试(shi)后的(de)检查。
判(pan)定标(biao)准：通过基本功能测试；外观和结构正常。
3. 温度冲击试验：

温(wen)度(du)冲(chong)击(ji)试(shi)验是确定产品(pin)在温(wen)度(du)急剧变化(hua)的(de)气候环境下储(chu)存、运输、使用的(de)适(shi)应(ying)性。试(shi)验的(de)严苛程度(du)取决(jue)于高/低温(wen)、驻留时间、循环数。

参考(kao)的测试标准：IEC60068-2-14、GB2423.22、GJB150.5等

测(ce)试目的(de)：检验产品经受环境(jing)温(wen)度讯(xun)速变化的(de)能力
测试设备：冷热(re)冲击测试箱(xiang)
测(ce)试样品：电子产品
测(ce)(ce)试内容：被测(ce)(ce)产(chan)品不包(bao)装、不导(dao)通或不带电池状态，以(yi)正(zheng)常(chang)位置(zhi)(zhi)放(fang)入测(ce)(ce)试箱内，高温(wen)为(wei)60℃，稳定温(wen)度保持(chi)时(shi)(shi)(shi)间(jian)为(wei)2小(xiao)时(shi)(shi)(shi)，低温(wen)为(wei)-20℃，，稳定温(wen)度保持(chi)时(shi)(shi)(shi)间(jian)为(wei)2小(xiao)时(shi)(shi)(shi)，转(zhuan)换时(shi)(shi)(shi)间(jian)不大于15秒，循环次(ci)数为(wei)12次(ci)（1循环周(zhou)期(qi)为(wei)4小(xiao)时(shi)(shi)(shi)），循环期(qi)满(man)，在(zai)正(zheng)常(chang)大气条件下放(fang)置(zhi)(zhi)2小(xiao)时(shi)(shi)(shi)，放(fang)置(zhi)(zhi)期(qi)满(man)，被检样(yang)机立即进行产(chan)品测(ce)(ce)试后的(de)检查。
判(pan)定标准：产品(pin)外观和结(jie)构正(zheng)(zheng)常(chang)。功能、性能方(fang)面(mian)正(zheng)(zheng)常(chang)。

4. 快速温变试验：

快速(su)温(wen)变试验是(shi)用(yong)来确定产品在高温(wen)、低温(wen)快速(su)或缓慢变化的气候环(huan)境下的储存、运输、使用(yong)的适应性。

试验(yan)过(guo)程(cheng)是(shi)以常温(wen)(wen)→低温(wen)(wen)→低温(wen)(wen)停(ting)留→高温(wen)(wen)→高温(wen)(wen)停(ting)留→常温(wen)(wen)作(zuo)为(wei)一(yi)个循环(huan)(huan)，温(wen)(wen)度循环(huan)(huan)试验(yan)的严苛程(cheng)度是(shi)以高/低温(wen)(wen)度范围、停(ting)留时(shi)间以及循环(huan)(huan)数(shu)来决定(ding)的。

参考的测试标准：GB/T 2423.34、IEC 60068-2-38、JB150.5等。

测试目的(de)：检验(yan)产品在经(jing)受温度环境(jing)条件下逐渐变化(hua)的(de)能力
测(ce)(ce)试设(she)备：恒温恒湿测(ce)(ce)试箱
测试(shi)样品：电子产(chan)品
测(ce)试内容：导通状态下，按照(zhao)-20℃温度放置(zhi)(zhi)(zhi)1H，55℃放置(zhi)(zhi)(zhi)1H,转换(huan)时间30min设置(zhi)(zhi)(zhi)进行测(ce)试，共连续进行5次循环，测(ce)试结(jie)束后进行测(ce)试。
判(pan)定标准：通(tong)过基本(ben)功能测试；外观和结(jie)构正常。

5.交变湿热(re)试验(yan)：

高低(di)温交变(bian)湿热试验是(shi)航空、汽车、家电(dian)(dian)、科(ke)研等(deng)领(ling)域的(de)测试项目，用(yong)于测试和确定(ding)电(dian)(dian)工、电(dian)(dian)子及其他产品及材料进(jin)行(xing)高温、低(di)温、交变(bian)湿热度或恒(heng)定(ding)试验的(de)温度环境变(bian)化后的(de)参数(shu)及性能。测试参考(kao)标准：GB/T 2423.1、GB/T 2423.2、GB/T 2423.3、GB/T 2423.4。

测试目(mu)的：检验产(chan)品在恒定湿热环境条件下使用(yong)(yong)的适用(yong)(yong)性(xing)
测试设备：交变湿热测试箱
测试(shi)样品：电子产品
测(ce)(ce)试内容：被测(ce)(ce)产(chan)品不包装、处于导通状态，以正常位置放入测(ce)(ce)试箱内，使温度(du)(du)达(da)到40±2℃,湿(shi)度(du)(du)达(da)到 95%，持续96小(xiao)时，持续期(qi)满，立(li)即进(jin)行(xing)产(chan)品测(ce)(ce)试后(hou)的检(jian)查。
判定标准：通过基本(ben)功能测试；外(wai)观和结构正常(chang)。