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低气压试验箱适用范围
点击次数：467 更新时间：2022-01-30

一、试验(yan)的(de)目(mu)的(de)

低气压(ya)试验的目的是评估元件(jian)(jian)、设备或其他类(lei)型(xing)的产(chan)品在低气压(ya)条(tiao)件(jian)(jian)下(xia)存储、运输和使用(yong)的能力(li)(li)，一般采用(yong)恒(heng)定压(ya)力(li)(li)条(tiao)件(jian)(jian)来模(mo)拟(ni)相应(ying)的工作条(tiao)件(jian)(jian)。在特(te)殊(shu)情况下(xia)，还需(xu)要评估产(chan)品承受空气压(ya)力(li)(li)快速变化的能力(li)(li)。

对于以下产品，可进行低(di)气(qi)压试验(yan)。

（1）在高(gao)海拔(ba)地(di)区存储(chu)/工(gong)作(zuo)的设备。

（2）在飞(fei)机增压(ya)或非增压(ya)舱内运输或工作的设备。

（3）暴露在(zai)快速减压或爆炸(zha)减压环境(jing)中的(de)设备。确定(ding)暴露在(zai)环境(jing)中的(de)装备故障是否(fou)会损坏其平台(tai)或造成人(ren)员伤害。

（4）飞机外部挂飞的设备(bei)。

气压试(shi)验(yan)(yan)又分为：高气压试(shi)验(yan)(yan)，低气压试(shi)验(yan)(yan)，高度试(shi)验(yan)(yan)，高温试(shi)验(yan)(yan)。

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二、依(yi)据的(de)标准有

低(di)气压试(shi)验常依据的标准有：

GB/T2423.21-2008电工电子产品环境(jing)试验第2部分：试验方法试验M：低气压》

GB/T2424.24-1995电工电子(zi)产品环境试验温(wen)度（低(di)温(wen)、高温(wen)）低(di)气(qi)压(ya)振(zhen)动（正(zheng)弦(xian)）综合(he)试验导则

GB/T4857.13-1992包装运(yun)输包装件低气压(ya)试(shi)验方法

GB12085.5-1989光学和光学仪(yi)器环境试验方法综合(he)低(di)温(wen)与(yu)低(di)气压

GGB/T10590-1989低温低气(qi)压(ya)试(shi)验箱技术条件

GB/T5170.10-1996电(dian)工电(dian)子产(chan)品环(huan)境设备基本参数检(jian)定方法高低(di)温低(di)气压试(shi)验设备

IEC68-2-41（1976）《基本环境试(shi)验(yan)规程(cheng)第二部分(fen)试(shi)验(yan)试(shi)验(yan)Z/BM高温/低气压试验(yan)》

HB5830.14-96《机载设备环境条件(jian)与试(shi)验方(fang)法低(di)气压（高度）》

JB3224-83）-使(shi)用于(yu)高海拔地区电工产(chan)品低气压试验(yan)方法

三、对(dui)试(shi)验设备的要求

低气(qi)压试验设备应能(neng)保(bao)持试验规(gui)定的(de)气(qi)压值(zhi)，并保(bao)持在规(gui)定的(de)容差(cha)范围(wei)内，同时也能(neng)保(bao)持试验规(gui)定的(de)持续时间，试验箱内空气(qi)不受辅助(zhu)设备和装置产(chan)生的(de)污染。

低(di)气压试验箱(xiang)应有供检查样品电性能的(de)接线孔。当导线通过箱(xiang)壁时(shi)，应保证(zheng)良好的(de)密封性能，无泄(xie)漏，导线本身(shen)不损(sun)坏(huai)断裂和交叉连接，并具有适(shi)当的(de)尺寸和绝(jue)缘。

试验箱应具有(you)监(jian)测活动部件机械性能(neng)和电气性能(neng)的装(zhuang)置。