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电线电缆高低温拉力测试方(fang)法：
1、绝缘(yuan)高温压力试验
⑴取样：
对(dui)每个被(bei)试护(hu)套，在除去(qu)外(wai)护(hu)层（若有(you)(you)的(de)话(hua)(hua)）和所有(you)(you)内(nei)部组件（线芯，填充物，内(nei)护(hu)层，铠(kai)装等(deng)，若有(you)(you)的(de)话(hua)(hua)）长为(wei)250～500mm的样(yang)段上截取相邻三(san)个试样(yang)。试样(yang)长度应为(wei)50～100mm（直径(jing)大(da)的(de)取较大(da)值(zhi)）。无护套(tao)的(de)扁平(ping)软线的(de)绝(jue)缘线芯不应分开。
⑵试样制备：
用机械(xie)方法除去(qu)试样上的(de)(de)所(suo)有(you)的(de)(de)护(hu)层，包括(kuo)半导电层（若有(you)的(de)(de)话）。根(gen)据电缆的(de)(de)类(lei)型(xing)，试样可(ke)以是圆形或扇截面。
⑶试(shi)样的放置：
压痕装置所示，由刀口厚度为(wei)(0.70±0.01)mm的矩形刀片组成(cheng)，刀片可(ke)对(dui)试样加压。每个试样放置在(zai)(zai)所(suo)示(shi)的位置上(shang)(shang)。无护套扁平软线(xian)应以扁平边(bian)放置。小直径(jing)试样在(zai)(zai)支(zhi)撑板上(shang)(shang)的固定方式不应使试样在(zai)(zai)刀片压力下发(fa)生弯曲。扇形试样应放置在(zai)(zai)如图1所示的(de)(de)带(dai)扇形凹(ao)槽(cao)的(de)(de)支撑板上，沿(yan)垂直于试样(yang)轴(zhou)线的(de)(de)方向施加压力(li)，刀片也(ye)与试样(yang)轴(zhou)线垂直。
⑷计算(suan)压力(li)：
刀片作用于试样（圆(yuan)形和扇形绝(jue)缘线芯）上的(de)压力(li)F，以N为单(dan)位，应按(an)下式计算：
F=k 2Dδ-δ2
式中：k——有(you)关电缆产品标准中规定的系数。如没有(you)规定，则应为(wei)：
软(ruan)线和(he)软(ruan)电缆(lan)的绝(jue)缘线芯 k=0.6
D≤15mm的固(gu)定(ding)敷设(she)用(yong)电(dian)缆绝缘(yuan)线(xian)芯 k=0.6
D＞15mm的固(gu)定(ding)敷设用电缆绝缘(yuan)线(xian)芯及(ji)扇(shan)形绝缘(yuan)线(xian)芯片 k=0.7
δ——护套试样厚(hou)度的平均(jun)值。
D——试样外径平(ping)均值。
δ和D均(jun)以mm计，到小数点后一位。按VDE0472 、GB/T2951.1规定的(de)试(shi)验方
法(fa)，在试样端(duan)头切取的(de)薄片上测得(de)。
对于扇形线(xian)芯(xin)，D为扇(shan)形“背部"或圆弧部分直径的平均值，用测量带在电缆缆芯上测量三次(ci)后(hou)取平均值，以mm计，到小(xiao)数点后一位（测(ce)量(liang)应在缆芯(xin)上三个(ge)不同地方进行）。
作用于无护套扁平软(ruan)线试(shi)样上(shang)的(de)(de)压力(li)应是按上(shang)述公式计(ji)算所得的(de)(de)值的(de)(de)两倍，其中D为第1条所述试(shi)样短轴尺寸的平均(jun)值。
压力F的(de)计算值(zhi)可以(yi)向较小值(zhi)化整，但舍去的(de)值(zhi)应不超过3%。
⑸试样加热：
试(shi)(shi)验(yan)应在(zai)空气烘(hong)(hong)箱(xiang)(xiang)中进(jin)行，试(shi)(shi)验(yan)设备和试(shi)(shi)样(yang)放(fang)在(zai)烘(hong)(hong)箱(xiang)(xiang)中不应振动；或者(zhe)放(fang)在(zai)有防振支架的空气烘(hong)(hong)箱(xiang)(xiang)中进(jin)行。任(ren)何(he)可能(neng)引起(qi)试(shi)(shi)样(yang)振动的设备诸(zhu)如鼓风(feng)机等，不允许直接与烘(hong)(hong)箱(xiang)(xiang)接触。
烘箱中空(kong)气温(wen)度应一(yi)直保持在有关电(dian)缆(lan)产品标(biao)准规(gui)定的温(wen)度。
未预热(re)的(de)受压试样在(zai)烘箱中放置的(de)时间按(an)有关电(dian)缆产品(pin)标准(zhun)(zhun)规(gui)(gui)定(ding)，如(ru)电(dian)缆产品(pin)标准(zhun)(zhun)没(mei)有规(gui)(gui)定(ding)，则(ze)按(an)如(ru)下规(gui)(gui)定(ding)：
——试样外径D≤15mm时为4h；
——试样外径(jing)D＞15mm时为6h；
⑹试样冷却：
规定的加(jia)热(re)时(shi)间结束后，试样(yang)在烘箱中(zhong)，在压力作用(yong)下应速冷却，可(ke)用(yong)冷水(shui)喷射压力在刀口下的试样(yang)来冷却。
绝缘试(shi)(shi)样冷却至(zhi)室(shi)温并不再继续(xu)变形后，从试(shi)(shi)验装置中取出，然(ran)后浸入(ru)冷水中进一步冷却。
⑺压痕测量：
试样(yang)冷却后立(li)即测量压(ya)痕深度。
抽(chou)出(chu)导(dao)体留下(xia)管状绝缘(yuan)试(shi)(shi)(shi)样，沿着试(shi)(shi)(shi)样的轴线方(fang)向，垂(chui)直于压痕从试(shi)(shi)(shi)样上切取一窄条试(shi)(shi)(shi)片。
将窄条试(shi)片平(ping)行放在读(du)数显微镜或测(ce)量投影仪下，并(bing)将十(shi)字线调到压(ya)痕底部和试(shi)片外(wai)侧。
外径约(yue)6mm及(ji)以(yi)下的小试(shi)样应在压痕处(chu)和压痕附近横向(xiang)切取(qu)两上(shang)试(shi)片(pian)（如图3所示）。
压痕深度(du)应是剖面图1和剖面(mian)图(tu)2在(zai)显微镜(jing)下的测量值(zhi)之差（如图3所示）。
全部(bu)测(ce)量值均以mm计，到小数点后两位。
⑻试验(yan)结果及评定：
从每个(ge)试样(yang)上截取(qu)三个(ge)试样(yang)压痕深度(du)的(de)中间(jian)值，应不大于试样(yang)绝缘厚度(du)平均值的(de)50%。
注：所定的50%这个值与公(gong)式的基本(ben)原则有(you)关，并且(qie)对所(suo)有(you)的材(cai)料都是一(yi)样的。试验严格程(cheng)度不仅随(sui)系数(shu)k的(de)变化而变化，但50%这个(ge)值不变。
2、护套高(gao)温压力(li)试验
⑴取样：
对(dui)每个(ge)被试护(hu)套，在除去外护(hu)层（若有(you)的话）和所有(you)内部组件（线(xian)芯，填(tian)充物，内护(hu)层，铠装等，若有(you)的话）长(zhang)为250~500mm的样段上截取(qu)相邻三个试(shi)样。试(shi)样长度应为50~100mm（直(zhi)径(jing)大的取较大值）。
⑵试样制备：
如(ru)果护套(tao)内没有凸脊，则沿着电缆轴(zhou)线(xian)方(fang)向，从(cong)每个护套(tao)试样上切(qie)取(qu)宽约(yue)为圆周长三分之(zhi)一的窄条。
如果护套内(nei)凸(tu)脊是由于5芯以上的绝缘线(xian)芯造成的，则应按同样的方法切取窄条并磨掉凸脊。
如果护套内凸(tu)脊是由于(yu)5芯(xin)以下(xia)的绝缘线芯(xin)造成的，则(ze)应(ying)沿着凸脊方向(xiang)截取窄条，窄条上(shang)至少含有一个约(yue)处于(yu)中间部位(wei)的凹槽。
如果护(hu)套是直接包覆在铜心(xin)导(dao)体，铠装或金(jin)属屏蔽上，由此形成的(de)凸脊(ji)不(bu)可能磨掉或削掉（大直径的(de)除外），则(ze)不(bu)必取下(xia)护(hu)套而将整个电缆(lan)段(duan)作为试样(yang)。
⑶试样在试验装置中的位置：
压痕装置与8.13条的规(gui)定一样，如图1所(suo)示。窄条应用一金(jin)属(shu)杆或金(jin)属(shu)管支撑，金(jin)属(shu)杆或金(jin)属(shu)管可沿其(qi)自(zi)身轴线方向对半分开，以便更稳定地支撑。金(jin)属(shu)管或金(jin)属(shu)杆的半径约(yue)等于试样(yang)内径的一半。
试验设备、窄条和(he)支(zhi)撑(cheng)(cheng)杆(gan)（管(guan)）的(de)(de)放置应使金(jin)属(shu)杆(gan)支(zhi)撑(cheng)(cheng)窄条，刀片对试样(yang)外(wai)表面加(jia)压。沿着(zhe)与(yu)(yu)金(jin)属(shu)杆(gan)或(huo)金(jin)属(shu)管(guan)（或(huo)当用整段电缆时）与(yu)(yu)电缆的(de)(de)轴线相垂(chui)直的(de)(de)方向施(shi)加(jia)压力，并且使刀片也与(yu)(yu)试样(yang)的(de)(de)轴线相垂(chui)直。
⑷护套高温压(ya)力计算(suan)：
除非另有规定，刀片(pian)作用于(yu)每个护套试样上的压力F，以N为(wei)单位，应按下(xia)式(shi)计算：
F=k 2Dδ-δ2
式(shi)中：k——有关电缆产品标准(zhun)中规定的系数。如没(mei)有规定，则应为：
软线和软电缆 k=0.6
D≤15mm的(de)固定敷设用电缆 k=0.6
D＞15mm的固定敷设用电缆 k=0.7
δ——护套试(shi)样厚(hou)度(du)的平均(jun)值。
D——护套试(shi)(shi)样外径平(ping)均(jun)值(zhi)；对于扁平(ping)电缆(lan)或软线，为(wei)护套试(shi)(shi)样短轴(zhou)尺寸的平(ping)均(jun)值(zhi)。
δ和D均以mm计，到小数(shu)点后一位。按护套平均厚度的方(fang)法测(ce)量(liang)(liang)，在试样端头切取的薄(bo)片上测(ce)得(de)，也可以使用结构测(ce)量(liang)(liang)中的数(shu)据。压(ya)力(li)F的(de)计算可以向较小值化整，但舍去的(de)值应不超过(guo)3%。
⑸加热(re)试(shi)样：
将已加上(shang)负荷的(de)试样(yang)和(he)试验装(zhuang)置(zhi)，均不需预(yu)(yu)热，放入(ru)试验温(wen)度的(de)电热烘(hong)箱(xiang)(xiang)中连续加热。试样(yang)设(she)备和(he)试样(yang)放在(zai)烘(hong)箱(xiang)(xiang)中不应振(zhen)动(dong)；或者放在(zai)有(you)防振(zhen)支架的(de)空气烘(hong)箱(xiang)(xiang)中进(jin)行。任何可能(neng)引起(qi)试样(yang)振(zhen)动(dong)的(de)设(she)备诸如(ru)鼓风机(ji)等，不允许直接与烘(hong)箱(xiang)(xiang)接触(chu)。未预(yu)(yu)热的(de)受压力试样(yang)在(zai)烘(hong)箱(xiang)(xiang)中放置(zhi)的(de)时间按有(you)关电缆产(chan)品(pin)标(biao)准(zhun)的(de)规定，如(ru)电缆产(chan)品(pin)标(biao)准(zhun)没有(you)规定，则按如(ru)下规定：
——试样外径(jing)D≤15mm时为4h；
——试样外(wai)径D＞15mm时为6h；
⑹试(shi)样冷(leng)却：
加热(re)结(jie)束后在烘箱中并在负荷下迅速用冷(leng)(leng)水(shui)浇射刀口处试样(yang)，使之冷(leng)(leng)却至不会(hui)复原的温度，然后取出，再浸入冷(leng)(leng)水(shui)中进行一(yi)步冷(leng)(leng)却。
⑺压痕测量：
压痕应在从(cong)试(shi)样(yang)上截(jie)取(qu)的试(shi)片上按第1点7条规定的(de)方法(fa)进行测量，如图2所示。
⑻试(shi)验(yan)结果(guo)的(de)评定：
从被试护套试样(yang)上切取的三个试片上的测(ce)得的压痕中间值，应不大于(yu)按第2点4条测得(de)的护磁试样厚度平均值的50%。
注：所(suo)定的50%这个值与公式的基本原则有关，并(bing)且对所有的材料都(dou)是一(yi)样的。试验严格程度不仅随(sui)系数k的变化(hua)而变化(hua)，但(dan)50%这(zhei)个值(zhi)不(bu)变。
