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电子类产品冷热冲击试验方法冷热冲击试验箱
点击次数:387 更新时间:2022-09-07

电子类(lei)产品(pin)冷热冲(chong)击(ji)试(shi)验方法(fa)冷热冲(chong)击(ji)试(shi)验箱(xiang):

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原理:

1、冷热冲(chong)击试验(气体)

有两种(zhong)(zhong)实(shi)现方(fang)式,一(yi)种(zhong)(zhong)为(wei)手(shou)动转(zhuan)换,将产(chan)品(pin)在高温(wen)箱(xiang)和低(di)温(wen)箱(xiang)之间进行转(zhuan)换,另一(yi)种(zhong)(zhong)为(wei)冲击试验箱(xiang),通过开关(guan)冷热室(shi)的(de)循环风门或其(qi)它类似手(shou)段(duan)实(shi)现温(wen)度转(zhuan)换。其(qi)中温(wen)度上限、温(wen)度下限为(wei)产(chan)品(pin)的(de)存储极限温(wen)度值(zhi)。

2、冷热冲击试验(yan)(液体(ti))

比试验来源于IEC 60068-2-14试验方(fang)法N:温度变化中(zhong)的NC。实现(xian)方(fang)式为(wei)吊(diao)篮式,将产品放置在吊(diao)篮中(zhong)按照要求(qiu)得入不同的温度液(ye)体中(zhong)。

冷热冲击试验(yan)参考标准

EC 60068-2-14,GB/T 2423.22,GJB 150.5 等

试样制备(bei):

1、温(wen)度(du)范围: -70~150

2、漏度(du)范围(wei): 20~98%RH,湿差: 土2.5%RH

3、温度速(su)率:可依据客户要求任(ren)意设定(ding)

4、内箱尺寸: 800*520*600mm

各类标(biao)准中的冷热冲击(ji)试验均来源于IEC 60068-2-14试(shi)验方法N: 温(wen)度变化中的Na 。在特(te)定时间内快(kuai)速温(wen)度变化试(shi)验。

试验目的(de)(de)(de)可以应(ying)用(yong)于模拟产(chan)品遇到温(wen)度(du)情况下(xia)的(de)(de)(de)工作情况,产(chan)品中大量的(de)(de)(de)慢温(wen)度(du)循环,对应(ying)实际电(dian)子类产(chan)品温(wen)度(du)循环,用(yong)较快的(de)(de)(de)温(wen)度(du)变化率(lv)及更宽(kuan)的(de)(de)(de)温(wen)度(du)变化范(fan)围。失(shi)效模式为因(yin)老化和不同的(de)(de)(de)温(wen)度(du)膨胀系(xi)数(shu)导致(zhi)的(de)(de)(de)材料裂化或密封失(shi)效。

预处理: 将(jiang)被测样品(pin)放(fang)(fang)置在正常的试验(yan)大气(qi)条件(jian)下,直至达到温度稳定初(chu)始检测:将(jiang)被测样品(pin)与标准要求对照,符合(he)要求后直接(jie)放(fang)(fang)入高(gao)低(di)温冲击试验(yan)箱内即可。

试验方(fang)法:

1.试验样品应按标准要求放置(zhi)在试验箱内,并将试验箱(室)内温(wen)度升到点,保持(chi)一定的时(shi)间(jian)至试验样品达到温(wen)度稳E以(yi)时(shi)间(jian)长都(dou)为准

2.高(gao)温阶段结束后,在5min内将试(shi)验(yan)(yan)样品(pin)转(zhuan)换到已调节到-55的低(di)温试(shi)验(yan)(yan)箱(室)内,保持1h或(huo)者(zhe)直至(zhi)试(shi)验(yan)(yan)样品(pin)达到温度(du)稳定,以时(shi)间长都为准。

3.低温阶段结束后,在5min内将(jiang)试验样(yang)品转(zhuan)换到已(yi)调节到70的高(gao)温试验箱(室)内,保持1h或者直(zhi)至试验样(yang)品达到温度稳定(ding),以时(shi)间(jian)长都为(wei)准

4.重复上述实(shi)验方(fang)法,以(yi)完(wan)成(cheng)三个循(xun)环周期。根据样件(jian)大小(xiao)与空间大小(xiao),时间可能(neng)会略有误差.

恢(hui)复:试验(yan)(yan)样品(pin)从(cong)试验(yan)(yan)箱内取出后,应在正常的(de)(de)试验(yan)(yan)大气条件下进行(xing)恢复,直至试验(yan)(yan)样品(pin)达(da)到温度(du)稳定最后检测(ce):对照标准中的(de)(de)受损程度(du)及其它方法(fa)进行(xing)检测(ce)结(jie)果(guo)评定。