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产品列表PRODUCTS LIST
电(dian)子电(dian)工高温低温试验方法可程式高低温试验箱：
高温测试(shi)：是用来确定(ding)产品在(zai)高温气候环境条件(jian)下储(chu)存、运(yun)输、使用的适(shi)应性。试(shi)验的严苛(ke)程度取(qu)决(jue)于(yu)高温的温度和(he)曝露持续时间；
高温测试分为(wei)：高温工作、高温启动、高温贮存。
低(di)温(wen)测试：是用来(lai)确(que)定(ding)产品在低(di)温(wen)气候环境条件下(xia)储存、运输、使用的适应性。试验的严苛(ke)程度取决于低(di)温(wen)的温(wen)度和曝露(lu)持续时间。
低温测试分为：低温工(gong)作、低温启动、低温贮存(cun)。
高低温(wen)测试的试验程序(xu)：
1、将样品进行试验前的检测，确保性能(neng)功能(neng)完好；
2、将受(shou)试样品放进(jin)温度箱，摆放在中(zhong)间位置，电源线信(xin)号线从温箱的出(chu)口出(chu)来(lai)，和辅助设(she)备搭(da)接完成；
3、开启温度(du)箱控制程(cheng)序(xu)，设定(ding)温度(du)点，保持时(shi)间，温度(du)变(bian)化(hua)速率(lv)等条件，确认(ren)各事项准(zhun)备完毕后(hou)，开启试验程(cheng)序(xu)。
4、试验中的检查，观察受(shou)试样(yang)品是否处于正常(chang)工作状(zhuang)态。
5、试验后最后检查，若(ruo)是(shi)贮存(cun)试验，试验后观察产品的性(xing)能(neng)(neng)和功能(neng)(neng)是(shi)否发生改(gai)变。
高(gao)低温(wen)测试(shi)检测标准：
电(dian)工电(dian)子产品环境(jing)试(shi)验(yan)(yan) 第(di) 2 部分：试(shi)验(yan)(yan)方法(fa) 试(shi)验(yan)(yan) A：低(di)温 GB/T 2423.1-2008，IEC 60068-2-1:2007
电工电子产品环境(jing)试(shi)验 第 2 部分：试(shi)验方法(fa) 试(shi)验 B：高温 GB/T 2423.2-2008 ，IEC 60068-2-2:2007
包装(zhuang) 运输(shu)包装(zhuang)件基本(ben)试验 第 2 部分：温湿度调节处理(li)GB/T 4857.2－2005，ISO 2233:2000
汽车电气设备基本技(ji)术条件 QC/T 413-2002
道路车辆 电气及电子设备的环(huan)境条件(jian)和(he)试验 第 4 部分：气候(hou)负荷(he) GB/T 28046.4-2011，ISO 16750-4:2006
装备实验(yan)室(shi)环境试(shi)验(yan)方(fang)法 低温(wen)试(shi)验(yan) GJB150.4A-2009
通信设备(bei)通用规范(fan) GJB367A－2001
计算机通用规范 GJB 322A-1998
轨道交(jiao)通(tong) 机车车辆(liang)电子装(zhuang)置 IEC60571:2006
轨道交通 机车车辆电子装置 EN 50155:2017
测试周期：
低温贮存24小时
高低温工作4小时或2小时
高温贮存48小时
高低(di)温启动2小时或(huo)1小时
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