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电子产品在在极速温度变化下性能试验方法
点击次数:370 更新时间:2022-06-20

电(dian)子产(chan)品在(zai)在极速温度变化下(xia)性能试验方法:

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目的:

确定(ding)产(chan)品(pin)在温(wen)度急剧变化(hua)(hua)气候(hou)环境(jing)下储存、运输、使(shi)用的环境(jing)适应性能力(li)。在高温(wen)与低(di)温(wen)瞬间变化(hua)(hua)条件下,对(dui)产(chan)品(pin)的物理以及其(qi)他(ta)相关特性进行(xing)环境(jing)模拟(ni)测试(shi),通(tong)过测试(shi)后的检测,来判断产(chan)品(pin)的性能,是(shi)否(fou)仍(reng)然能够符合(he)预(yu)定(ding)要求,以便供产(chan)品(pin)设计(ji)、改进、鉴定(ding)及出(chu)厂检验用;

试验方法(fa):

1.温度(du)范围: -45°C~+85℃

2.温度转换(huan)时间(jian):<3min

3.高低温极限温度各保持(chi)2小时

4.循环次数为10次

5.试(shi)验(yan)过(guo)程中(zhong)不通(tong)电,试(shi)验(yan)结束后(hou),检查外(wai)观和通(tong)电测试(shi)产品(pin)功能

6.循(xun)环(huan)次(ci)(ci)(ci)数(shu)每检测标准要求的(de)不同,有的(de)要求3次(ci)(ci)(ci),5次(ci)(ci)(ci),10次(ci)(ci)(ci)循(xun)环(huan)的(de)都(dou)有,高低温保持时间也是根据产品的(de)实际使用场所以(yi)及用户(hu)的(de)要求来确定.

快速温变测(ce)试(shi)也(ye)被(bei)称(cheng)为温度循(xun)环(huan)试(shi)验,温度变化速率一(yi)般要求5度/min、10度/min、15度/min。快速(su)温变试验适用于航(hang)(hang)空(kong)航(hang)(hang)天产(chan)品、仪(yi)器仪(yi)表、电工电子产(chan)品、各种电子元气件(jian)在(zai)极速(su)温度改变条件(jian)下(xia)发现(xian)早期(qi)故障的一(yi)种环境应力筛选试验方法。

快(kuai)速(su)温变试验实(shi)验室新引进(jin)的快(kuai)速(su)温变/温(wen)度(du)循环试(shi)验箱内箱尺寸(cun):高 1200mm、宽 1000mm、深 1000mm。温(wen)度(du)变化速率可(ke)高达15度(du)/min,可(ke)以满足民用设备(bei)的环境应力筛选试(shi)验条(tiao)件。

快速温度变化(hua)试验在实际应用中(zhong)有(you)两类(lei):

一类为慢(man)速的温度变化(hua)试验,其(qi)温度变化(hua)速率<3℃/min(一般各标准经常选择(ze)参(can)数为1℃/min),也既一般应用(yong)中(zhong)的温(wen)度(du)变(bian)化、温(wen)度(du)循(xun)环、温(wen)度(du)交变(bian)试验(此三类为一种(zhong)试验);

另一类为快速的(de)温度(du)变(bian)化试验(yan),其(qi)温度(du)变(bian)化速率≥3℃/min,也既一般应用中的(de)快速温变试验。

快速(su)温度(du)变化(hua)试验的特(te)点:

产品在试(shi)验中工作、温(wen)(wen)度变化的速率一(yi)定。温(wen)(wen)度变化速率一(yi)般(ban)为3℃/min、4℃/min、5℃/min、7℃/min、10℃/min,15℃/min,20℃/min,25℃/min。