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高低温冷热冲击试验箱

产品简介:

高低温(wen)冷热冲击试(shi)(shi)验箱适用于金属(shu)、塑料(liao)(liao)、橡胶(jiao)、电子机(ji)电产品(pin)、航空航天、能(neng)源材料(liao)(liao)、医疗化工(gong)等材料(liao)(liao)行业模拟试(shi)(shi)件在周围(wei)大气温(wen)度(du)急剧变化条件下的适应性(xing)试(shi)(shi)验及对电子元器(qi)件的安全(quan)性(xing)测试(shi)(shi)提(ti)供可靠性(xing)试(shi)(shi)验

     
更新时间 2023-08-19
访问次数 543
产品型号 GDC-4027
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品牌荣计达仪器价格区间1万-5万
产地类别国产应用领域电子,航天,汽车,电气,综合

高低温冷热冲击试验箱产品用途:

高(gao)低温冲击试验箱用于测试材料(liao)瞬间高温低(di)温的(de)连(lian)续环(huan)境下所(suo)能忍受的(de)程(cheng)度得以在最(zui)短时间内检(jian)测试(shi)样因热胀冷缩所(suo)引(yin)起的(de)物理变(bian)化适用于金属、塑(su)料、橡胶、电子机(ji)电产品、航空航天、能(neng)源材料、医(yi)疗化工(gong)等(deng)材料行业模拟试(shi)件在周围(wei)大气温度(du)急剧变化条件下的(de)适应性(xing)(xing)试(shi)验及(ji)对(dui)电子元器件的(de)安全性(xing)(xing)测(ce)试(shi)提供可(ke)靠性(xing)(xing)试(shi)验

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高低温冷热冲击试验箱特点:

1、采(cai)用气动控制,提篮在高低温室内切(qie)换转移,

2、转换时间短,温(wen)度恢复时间短,温(wen)变速度快,

3、采用(yong)两箱法,新(xin)一代外观设计整体结构紧凑,体积小(xiao),提高了工作室(shi)的温度均(jun)匀性(xing)

4、既可作(zuo)冷(leng)热冲击试验,也可以做单独高温(wen)或单独低(di)温(wen)使用。

5、备(bei)有高(gao)档万向滚(gun)轮,方便(bian)在实(shi)验室内移(yi)动。

6、真空双层加热观(guan)察窗自带照明

7、多数据接口,SD卡储存,USB输出,电脑(nao)APP远程操作(zuo)

技术参数

1、提篮有效容积 27L

2、规格尺寸外(wai)宽深高(gao):750×2100×1900mm,内520×600×600mm

3、提篮(lan)尺寸:300×300×300mm

4、高温预温度(du)范围60℃~+180℃

5、低温预温度范(fan)围-10℃~-60℃

6、温度冲击(ji)范围-40℃~+120℃

7、提篮转换(huan)时间≤10S

8、温度恢(hui)复时间≤5min

9、温度波动度≤±0.5℃

10、温度均匀(yun)度≤2℃

11、温(wen)度(du)偏差≤±2℃

12、高温预热时间:20℃~180℃≈30min、

13、低(di)温(wen)预(yu)冷时间:20℃~-60℃≈75min

14、总功率(lv)≈12kw

15、运行功率≈8KW

16使用电(dian)压(ya)AC220   50Hz

规(gui)格

提篮尺寸(cun)

外形尺(chi)寸

27L

300×300×300

750×2100×1900

80L

400×400×500

1200×2500×1800

150L

500×500×600

1500×2600×1850

210L

600×500×700

1700×2650×1900

510L

800×800×800

2500×3200×2100

1000L

1000×1000×1000

3000×3500×2100

温度(du)参数(shu)

高温(wen)预温(wen)度范围

60℃~+200℃

低温预温度(du)范(fan)围

-10℃~-80℃

冲(chong)击范围

-40、-50、-65℃~120、150℃ 按要(yao)求选定(ding)

温度(du)恢复(fu)时间

≤5min

温度(du)波动度(du)

≤±0.5℃

温度(du)均匀度(du)

≤2℃

温度偏差(cha)

≤±2℃

提(ti)篮运行(xing)

运动方式

气动

提篮转换时间

≤10S

安全保护(hu)

 

漏电、短路、超温(wen)、电机(ji)过热、压缩机(ji)超压、过载、过电流保护/控制器停电记忆

 

满足标准(zhun)及试验方法

GB11158-2008高温试验(yan)箱技(ji)术(shu)条(tiao)件

GB10589-2008低温试验(yan)箱技术条件

GB10592-2008高低(di)温(wen)试验箱技术条件(温(wen)度(du)交变)

GB/T2423.1-2008电工电子(zi)产品环境试(shi)(shi)验(yan)第2部分(fen):试(shi)(shi)验(yan)方法 试(shi)(shi)验(yan)A:低温(IEC60068-2-1:2007)

GB/T2423.2-2008电(dian)工电(dian)子产品环境试(shi)验(yan)(yan)第2部分(fen):试(shi)验(yan)(yan)方法(fa) 试(shi)验(yan)(yan)B:高温(IEC60068-2-1:2007)

GB/T2423.22-2002电(dian)工(gong)电(dian)子产(chan)品环境试验(yan)第2部分(fen):试验(yan)方法 试验(yan)N:温(wen)度变化(IEC60068-2-14)

GJB150.3A-2009装备实验(yan)室(shi)环境试(shi)验(yan)方法第3部分:高温(wen)试(shi)验(yan)

GJB150.4A-2009装(zhuang)备实验室环(huan)境试验方法第3部分:低(di)温试验

GJB150.5-1986温(wen)度冲(chong)击(ji)试(shi)验


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