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产品列表PRODUCTS LIST
可程式冷热冲击(ji)试(shi)(shi)(shi)(shi)验(yan)箱(xiang)用于测试(shi)(shi)(shi)(shi)材料瞬间高温(wen)至低温(wen)的(de)连续环境下(xia)所能忍受的(de)程度(du)得以在最短时间内检测试(shi)(shi)(shi)(shi)样因热胀冷缩所引起的(de)物理变(bian)化。适(shi)用于金属、塑料、橡胶、电(dian)子机电(dian)产品、航空航天(tian)、能源材料、医疗化工等材料行业(ye)模拟试(shi)(shi)(shi)(shi)件在周(zhou)围大气温(wen)度(du)急剧(ju)变(bian)化条件下(xia)的(de)适(shi)应性(xing)试(shi)(shi)(shi)(shi)验(yan)及对电(dian)子元器(qi)件的(de)安(an)全性(xing)测试(shi)(shi)(shi)(shi)提供(gong)可靠性(xing)试(shi)(shi)(shi)(shi)验(yan)
| 更新时间 | 2023-08-20 |
|---|---|
| 访问次数 | 1119 |
| 产品型号 | GDC-4027-2 |
| 品牌 | 荣计达仪器 | 价格区间 | 5万-10万 |
|---|---|---|---|
| 产地类别 | 国产 | 应用领域 | 建材,电子,汽车,电气,综合 |
可程式冷热冲击试验箱产品用途：
高(gao)低温冲(chong)击(ji)试验箱用于(yu)测试(shi)材料瞬间高温至低温的连(lian)续环境下所能(neng)忍受的程度得以在最(zui)短时(shi)间内检测(ce)试(shi)样因热胀(zhang)冷缩所引(yin)起的物(wu)理变(bian)化(hua)。适用于(yu)金属、塑料(liao)、橡(xiang)胶、电子机电产品、航空航天、能源材(cai)料(liao)、医疗化工(gong)等材(cai)料(liao)行业模拟试(shi)件在周围大(da)气温(wen)度急剧变(bian)化条件下(xia)的适(shi)应性(xing)试(shi)验(yan)及对电子元(yuan)器件的安全性(xing)测试(shi)提供可靠性(xing)试(shi)验(yan)
可程式冷热冲击试验箱特点：
1、采用气动(dong)控制，提篮(lan)在(zai)高低温室内切换转移，
2、转换时间短，温(wen)度(du)恢复时间短，温(wen)变速度(du)快(kuai)，
3、采用两箱(xiang)法，新一代外观设计，整体结构紧凑，体积小，提高了工作室(shi)的温度(du)均匀性。
4、既(ji)可(ke)(ke)作(zuo)冷热冲击试验，也可(ke)(ke)以做单独高温或单独低(di)温使用。
5、备有高档万向(xiang)滚轮，方便(bian)在实验(yan)室内移动。
6、真空双层加(jia)热观察窗，自带照明。
7、多数据接口(kou)，SD卡储存，USB输出，电脑APP远程(cheng)操作。
技(ji)术参数(shu)
1、提篮有效容积 27L
2、规格尺寸：外宽深高：750×2100×1900mm，内520×600×600mm
3、提篮(lan)尺寸：300×300×300mm
4、高温(wen)预(yu)温(wen)度范围：60℃～+180℃
5、低温预温度范(fan)围：-10℃～-60℃
6、温度冲击范(fan)围：-40℃～+120℃
7、提(ti)篮(lan)转换时间：≤10S
8、温度恢复时间：≤5min
9、温(wen)度波动度：≤±0.5℃
10、温(wen)度均匀度：≤2℃
11、温度偏(pian)差：≤±2℃
12、高温预热时间：20℃～180℃≈30min、
13、低温预冷时间：20℃～-60℃≈75min
14、总功率：≈12kw
15、运行功率：≈8KW
16使用电压：AC220 50Hz
规格 | 提篮尺寸 | 外形尺寸 |
27L | 300×300×300 | 750×2100×1900 |
80L | 400×400×500 | 1200×2500×1800 |
150L | 500×500×600 | 1500×2600×1850 |
210L | 600×500×700 | 1700×2650×1900 |
510L | 800×800×800 | 2500×3200×2100 |
1000L | 1000×1000×1000 | 3000×3500×2100 |
温(wen)度参数 | 高温(wen)预温(wen)度(du)范围 | 60℃～+200℃ |
低温预温度范围(wei) | -10℃～-80℃ | |
冲击范围(wei) | -40、-50、-65℃～120、150℃ 按(an)要求(qiu)选(xuan)定(ding) | |
温度恢复(fu)时间 | ≤5min | |
温度(du)波动度(du) | ≤±0.5℃ | |
温度均匀度 | ≤2℃ | |
温度(du)偏差： | ≤±2℃ | |
提篮(lan)运(yun)行 | 运动方式 | 气(qi)动 |
提篮转换时(shi)间 | ≤10S | |
安(an)全保护
| 漏电、短路(lu)、超温(wen)、电机(ji)(ji)过热、压缩机(ji)(ji)超压、过载、过电流(liu)保护(hu)/控制(zhi)器(qi)停(ting)电记忆 | |
满足标准(zhun)及试验方法
GB11158-2008高温(wen)试验箱技术条件
GB10589-2008低温试验箱技术条件
GB10592-2008高低温试验箱技术条件（温度(du)交变）
GB/T2423.1-2008电工电子产品环(huan)境试(shi)验(yan)第2部分：试(shi)验(yan)方(fang)法 试(shi)验(yan)A:低温(IEC60068-2-1:2007)
GB/T2423.2-2008电工电子产(chan)品环境(jing)试验第2部分：试验方法 试验B:高(gao)温(IEC60068-2-1:2007)
GB/T2423.22-2002电(dian)工电(dian)子(zi)产品环(huan)境试(shi)验(yan)第2部分：试(shi)验(yan)方(fang)法(fa) 试(shi)验(yan)N:温(wen)度变化(IEC60068-2-14)
GJB150.3A-2009装备实验(yan)室环境试验(yan)方法第3部分：高温(wen)试验(yan)
GJB150.4A-2009装备实验(yan)室环境试验(yan)方(fang)法第(di)3部分：低(di)温试验(yan)
GJB150.5-1986温度冲(chong)击试验(yan)
