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两箱温(wen)度冲(chong)击试验(yan)箱用于(yu)测试材料瞬间高温(wen)低(di)温(wen)的(de)(de)连续环(huan)境下所能(neng)(neng)忍(ren)受(shou)的(de)(de)程度得以在最短(duan)时间内检测试样因热胀冷缩(suo)所引起的(de)(de)物理变(bian)(bian)化。适用于(yu)金属(shu)、塑(su)料、橡胶、电(dian)子(zi)机电(dian)产品、航空航天、能(neng)(neng)源材料、医(yi)疗化工等材料行业模(mo)拟试件在周(zhou)围大(da)气温(wen)度急剧变(bian)(bian)化条件下的(de)(de)适应性试验(yan)及对(dui)电(dian)子(zi)元(yuan)器件的(de)(de)安全性测试提(ti)供可(ke)靠(kao)性试验(yan)
更新时间 | 2023-08-20 |
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访问次数 | 318 |
产品型号 | GDC-4027-1 |
品牌 | 荣计达仪器 | 价格区间 | 5万-10万 |
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产地类别 | 国产 | 应用领域 | 建材,电子,汽车,电气,综合 |
两箱温度冲击试验箱产品用途:
高低(di)温冲击(ji)试(shi)验箱用于测试材料瞬间(jian)高(gao)温低温的(de)连续环境下所能忍受的(de)程度得(de)以在最(zui)短(duan)时(shi)间内检测试样因热胀(zhang)冷(leng)缩所引起的(de)物理变(bian)化。适用于金属(shu)、塑料(liao)、橡胶、电子机电产品、航空航天、能源材料(liao)、医疗化工等材料(liao)行(xing)业模(mo)拟试件(jian)在周围大气温(wen)度急剧变化条(tiao)件(jian)下的(de)适应(ying)性(xing)试验(yan)及对电子元器件(jian)的(de)安(an)全性(xing)测试提供可(ke)靠性(xing)试验(yan)
两箱温度冲击试验箱特点:
1、采用气动(dong)控(kong)制(zhi),提篮(lan)在(zai)高(gao)低(di)温室内切换转移,
2、转换时间短,温度恢复时间短,温变速度快,
3、采用两(liang)箱法,新(xin)一代(dai)外观设计(ji),整体(ti)结构紧凑,体(ti)积小,提(ti)高了工作室的温度均匀性(xing)。
4、既可(ke)作(zuo)冷热冲(chong)击试验,也可(ke)以(yi)做单独(du)高温或(huo)单独(du)低温使用。
5、备(bei)有高档万向滚(gun)轮,方(fang)便在实验室内(nei)移动。
6、真空双层加热观察窗,自带照明。
7、多数据(ju)接口(kou),SD卡储存,USB输(shu)出,电脑APP远程操作。
技术参数
1、提篮有效容(rong)积 27L
2、规格尺(chi)寸:外宽深高:750×2100×1900mm,内520×600×600mm
3、提篮尺寸(cun):300×300×300mm
4、高温(wen)预(yu)温(wen)度范围:60℃~+180℃
5、低(di)温(wen)预温(wen)度范围:-10℃~-60℃
6、温度(du)冲(chong)击(ji)范围:-40℃~+120℃
7、提篮转换时(shi)间:≤10S
8、温(wen)度恢(hui)复时间:≤5min
9、温度(du)(du)波动度(du)(du):≤±0.5℃
10、温度(du)均匀度(du):≤2℃
11、温度偏差(cha):≤±2℃
12、高(gao)温(wen)预热(re)时(shi)间:20℃~180℃≈30min、
13、低温预(yu)冷时间:20℃~-60℃≈75min
14、总(zong)功率(lv):≈12kw
15、运行功(gong)率(lv):≈8KW
16使(shi)用电压:AC220 50Hz
规格 | 提篮尺(chi)寸 | 外形尺寸 |
27L | 300×300×300 | 750×2100×1900 |
80L | 400×400×500 | 1200×2500×1800 |
150L | 500×500×600 | 1500×2600×1850 |
210L | 600×500×700 | 1700×2650×1900 |
510L | 800×800×800 | 2500×3200×2100 |
1000L | 1000×1000×1000 | 3000×3500×2100 |
温度参数 | 高温预温度范(fan)围 | 60℃~+200℃ |
低温预温度范围 | -10℃~-80℃ | |
冲击范围 | -40、-50、-65℃~120、150℃ 按要求选定 | |
温度恢复时(shi)间 | ≤5min | |
温(wen)度(du)波(bo)动度(du) | ≤±0.5℃ | |
温度(du)(du)均匀度(du)(du) | ≤2℃ | |
温度偏(pian)差: | ≤±2℃ | |
提篮运行 | 运动方式 | 气(qi)动 |
提篮转换(huan)时间 | ≤10S | |
安全保护(hu)
| 漏电、短路、超温、电机过热、压缩机超压、过载、过电流保(bao)护/控制(zhi)器停电(dian)记忆(yi) |
满足标准及(ji)试验方(fang)法
GB11158-2008高温(wen)试验箱技术条件
GB10589-2008低温(wen)试验(yan)箱技术条件
GB10592-2008高(gao)低温试(shi)验箱技术条(tiao)件(温度交(jiao)变(bian))
GB/T2423.1-2008电工电子产(chan)品环境试(shi)验第2部分:试(shi)验方法 试(shi)验A:低温(IEC60068-2-1:2007)
GB/T2423.2-2008电(dian)工(gong)电(dian)子(zi)产品环境试(shi)验第2部(bu)分:试(shi)验方法 试(shi)验B:高温(IEC60068-2-1:2007)
GB/T2423.22-2002电工电子产品环境试(shi)(shi)验第2部分:试(shi)(shi)验方法 试(shi)(shi)验N:温(wen)度(du)变(bian)化(hua)(IEC60068-2-14)
GJB150.3A-2009装备实验室环境试(shi)验方法(fa)第3部分(fen):高温试(shi)验
GJB150.4A-2009装备实验室环境试验方法第3部分(fen):低(di)温试验
GJB150.5-1986温(wen)度(du)冲击试验