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产品列表PRODUCTS LIST
冷(leng)热冲击(ji)高低温试验(yan)箱厂家用于(yu)测试材(cai)料(liao)瞬间高温至低温的连(lian)续环境下所能(neng)忍受的程度得以在最短时(shi)间内(nei)检测试样因热胀冷(leng)缩所引(yin)起的物(wu)理变化(hua)。
| 更新时间 | 2023-08-19 |
|---|---|
| 访问次数 | 529 |
| 产品型号 | GDC-4027 |
| 品牌 | 荣计达仪器 | 价格区间 | 面议 |
|---|---|---|---|
| 产地类别 | 国产 | 应用领域 | 环保,生物产业,石油,能源,制药 |
冷热冲击高低温试验箱厂家产品用途：
高(gao)低温(wen)冲击试(shi)(shi)验(yan)(yan)箱用于测(ce)试(shi)(shi)材(cai)料瞬(shun)间高(gao)温(wen)至低温(wen)的(de)连续环境下所能忍受的(de)程度得(de)以在最短时间内检测(ce)试(shi)(shi)样因热(re)胀冷缩所引起的(de)物理变化。适用于金属、塑料、橡胶(jiao)、电子机电产品(pin)、航(hang)空航(hang)天(tian)、能源材(cai)料、医疗化工等(deng)材(cai)料行业模拟试(shi)(shi)件在周围(wei)大气温(wen)度急剧变化条件下的(de)适应性(xing)试(shi)(shi)验(yan)(yan)及对电子元器件的(de)安全性(xing)测(ce)试(shi)(shi)提供可靠性(xing)试(shi)(shi)验(yan)(yan)
冷热冲击高低温试验箱厂家特点：
1、采用气动控制，提篮(lan)在高(gao)低温室内切(qie)换转移，
2、转换(huan)时间短，温度(du)恢复时间短，温变速度(du)快，
3、采用(yong)两箱法，新一代外观设计(ji)，整体结构紧凑(cou)，体积(ji)小，提高(gao)了工作室的温度(du)均(jun)匀性。
4、既可(ke)作冷(leng)热冲击试(shi)验，也可(ke)以(yi)做(zuo)单独高温(wen)或单独低温(wen)使用。
5、备有(you)高档万向滚轮，方便在实验室(shi)内移动。
6、真空双层加热(re)观察(cha)窗(chuang)，自带照明。
7、多(duo)数据接口，SD卡储存，USB输出(chu)，电脑APP远程(cheng)操作。
技术参数
1、提篮(lan)有(you)效容积 27L
2、规(gui)格尺寸：外(wai)宽深高：750×2100×1900mm，内520×600×600mm
3、提篮(lan)尺(chi)寸：300×300×300mm
4、高温预(yu)温度范围：60℃～+180℃
5、低温预温度范(fan)围：-10℃～-60℃
6、温(wen)度冲击范围(wei)：-40℃～+120℃
7、提篮转(zhuan)换(huan)时间：≤10S
8、温度恢复(fu)时间：≤5min
9、温度波(bo)动(dong)度：≤±0.5℃
10、温度均匀度：≤2℃
11、温度偏(pian)差：≤±2℃
12、高温(wen)预(yu)热时间：20℃～180℃≈30min、
13、低温预(yu)冷(leng)时(shi)间：20℃～-60℃≈75min
14、总(zong)功率：≈12kw
15、运(yun)行功率：≈8KW
16使(shi)用电压：AC220 50Hz
规(gui)格 | 提篮尺寸 | 外(wai)形尺寸 |
27L | 300×300×300 | 750×2100×1900 |
80L | 400×400×500 | 1200×2500×1800 |
150L | 500×500×600 | 1500×2600×1850 |
210L | 600×500×700 | 1700×2650×1900 |
510L | 800×800×800 | 2500×3200×2100 |
1000L | 1000×1000×1000 | 3000×3500×2100 |
温度(du)参数 | 高(gao)温(wen)预温(wen)度范(fan)围 | 60℃～+200℃ |
低(di)温预温度范(fan)围 | -10℃～-80℃ | |
冲击范围 | -40、-50、-65℃～120、150℃ 按要(yao)求(qiu)选定(ding) | |
温度恢(hui)复(fu)时间 | ≤5min | |
温度(du)(du)波动度(du)(du) | ≤±0.5℃ | |
温度均匀(yun)度 | ≤2℃ | |
温度偏差(cha)： | ≤±2℃ | |
提篮运行(xing) | 运(yun)动方式(shi) | 气动(dong) |
提篮转换时间(jian) | ≤10S | |
安全保(bao)护
| 漏电(dian)(dian)、短路(lu)、超温(wen)、电(dian)(dian)机(ji)过(guo)热(re)、压缩机(ji)超压、过(guo)载、过(guo)电(dian)(dian)流(liu)保护/控制器(qi)停电(dian)(dian)记忆 | |
满(man)足(zu)标(biao)准(zhun)及试验方法
GB11158-2008高温试验(yan)箱技术条件
GB10589-2008低温试(shi)验箱(xiang)技术(shu)条件
GB10592-2008高(gao)低温试验箱(xiang)技术(shu)条件（温度(du)交变）
GB/T2423.1-2008电工电子(zi)产品环境试(shi)验(yan)第2部分：试(shi)验(yan)方法 试(shi)验(yan)A:低(di)温(IEC60068-2-1:2007)
GB/T2423.2-2008电工电子产(chan)品环(huan)境(jing)试验(yan)第2部分：试验(yan)方法 试验(yan)B:高温(wen)(IEC60068-2-1:2007)
GB/T2423.22-2002电工电子产品环(huan)境试验(yan)(yan)第2部分(fen)：试验(yan)(yan)方(fang)法(fa) 试验(yan)(yan)N:温度(du)变(bian)化(IEC60068-2-14)
GJB150.3A-2009装(zhuang)备实验(yan)室环境试(shi)验(yan)方(fang)法第3部分：高温(wen)试(shi)验(yan)
GJB150.4A-2009装备实(shi)验室环境试(shi)验方法第3部分：低温(wen)试(shi)验
GJB150.5-1986温度(du)冲击(ji)试(shi)验
